Logo ČVUT
Loading...
ČESKÉ VYSOKÉ UČENÍ TECHNICKÉ V PRAZE
STUDIJNÍ PLÁNY
2024/2025
Fakulty | Celoškolská nabídka volitelných předmětů | Katalog předmětů ECTS | Nastavení | English version
Úvodní stránka > Fakulta informačních technologií > katedra číslicového návrhu > Testování a spolehlivost

Testování a spolehlivost

Přihlášení do KOSu pro zápis předmětu Zobrazit rozvrh
Kód Zakončení Kredity Rozsah Jazyk výuky
NI-TSP Z,ZK 5 2P+2C česky
Garant předmětu:
Petr Fišer
Přednášející:
Petr Fišer
Cvičící:
Martin Daňhel, Petr Fišer
Předmět zajišťuje:
katedra číslicového návrhu
Anotace:

Studenti získají přehled v oblasti testování číslicových obvodů a o metodách pro zvýšení spolehlivosti a bezpečnosti. Studenti budou schopni vytvořit test obvodu metodou intuitivního zcitlivění cesty, použít automatický generátor testovacích vzorků, budou schopni navrhnout snadno testovatelný obvod a obvod s vestavěným testovacím vybavením, budou schopni lokalizovat poruchy na základě výsledků testů. Dále budou schopni počítat a analyzovat spolehlivost a provozuschopnost obvodů a aktivně ovlivňovat tyto parametry. Studenti budou schopni navržené znalosti využít v komplexních projektech návrhu obvodů ASIC i FPGA.

Požadavky:

Základní znalost návrhu číslicových obvodů (BI-SAP).

Osnova přednášek:

1. Úvod, typy defektů, poruch, testování.

2. Modelování poruch, teorie generování testu pro kombinační obvody.

3. Algoritmy pro automatické generování testu (ATPG).

4. Principy testování sekvenčních obvodů, simulace poruch.

5. Spolehlivost systémů, zvyšování spolehlivosti.

6. Modelování a výpočet spolehlivosti.

7. Principy testovatelného návrhu (DFT).

8. Testování sekvenčních obvodů - scan návrh.

9. Testování propojení, testování systémů na čipu.

10. Prostředky vestavěné diagnostiky (BIST).

11. Principy komprese testu.

12. Testování pamětí a FPGA obvodů.

Osnova cvičení:

1. Úvod do předmětu

2. Poruchy v číslicových obvodech

3. Generování testů pro kombinační obvody, D-Algoritmus

4. ATPG Atalanta, Booleovská diference

5. ATPG založené na SATu

6. Testování sekvenčních obvodů

7. Spolehlivostní modely s nezávislými prvky

8. Markovské spolehlivostní modely

9. Stromy poruch a další spolehlivostní modely

10. Spolehlivostní normy

11. Zápočtový test, návrh vestavěné diagnostiky

12. Rezerva, zápočet

Cíle studia:

Cílem předmětu je studentům poskytnout základní orientaci v problematice testování obvodů a metodách zvyšování spolehlivosti a zabezpečení. Při řešení názorných příkladů a projektů studenti zjistí, jaká je složitost a časová náročnost detekce a lokalizace poruch. Na jednotlivých metodách řešení problému testování, zvyšování spolehlivosti a zabezpečení studenti pochopí výhody a nevýhody jednotlivých přístupů a budou schopni optimalizovat redundanci pro tyto účely zavedenou do systému. Absolvování předmětu studentům poskytne základní informace pro práci inženýra-návrháře i testovacího inženýra.

Studijní materiály:

O. Novák, E. Gramatová, and R. Ubar, „Handbook of testing electronic systems“. Praha: Publishing House of CTU, 2005. ISBN 80-01-03318-X.

Hlavička, J. „Diagnostika a spolehlivost“. Praha: ČVUT, 1998. ISBN 80-01-01846-6.

Hlavička, J. „Diagnostika a spolehlivost: cvičení“. Praha: ČVUT, 1998. ISBN 80-01-01714-1.

R. Velazco, D. McMorrow, J. Estela, „Radiation Effects on Integrated Circuits and Systems for Space Applications“, Springer, 2019, ISBN: 978-3-030-04660-6, 401 p.

Z. Navabi, „Digital System Test and Testable Design“, Springer, 2011, ISBN 978-1-4419-7547-8, p. 435

L. D., Protheroe D., „Digital circuit testing and design for testability“, in Design of Logic Systems, Springer, Boston, MA, ISBN: 978-0-412-42890-6, 1992

F. C. Wang, „Digital Circuit Testing: A Guide to DFT and Other Techniques“, Elsevier, ISBN 978-0-12-734580-2, 1991, 228 p.

F. da Silva, T. McLaurin, and T Waayers, „The Core Test Wrapper Handbook: Rationale and Application of IEEE Std. 1500“, Frontiers in Electronic Testing, 2006-th Edition, Springer, ISBN 978-0387307510, 2006, 276 p.

Poznámka:

Informace o předmětu a výukové materiály naleznete na https://courses.fit.cvut.cz/NI-TSP/

Další informace:
https://courses.fit.cvut.cz/NI-TSP/
Rozvrh na zimní semestr 2024/2025:
Rozvrh není připraven
Rozvrh na letní semestr 2024/2025:
Rozvrh není připraven
Předmět je součástí následujících studijních plánů:
Platnost dat k 16. 6. 2024
Copyright © Jiří Kosek, 2010–2022 | Copyright © ČVUT, 2010–2022
Provozuje Výpočetní a informační centrum ČVUT
Dotazy a připomínky zasílejte na HelpDesk ČVUT nebo na spravcekos@cvut.cz
Aktualizace výše uvedených informací naleznete na adrese https://bilakniha.cvut.cz/cs/predmet6115706.html