Logo ČVUT
ČESKÉ VYSOKÉ UČENÍ TECHNICKÉ V PRAZE
STUDIJNÍ PLÁNY
2019/2020

Diagnostika a testování

Předmět není vypsán Nerozvrhuje se
Kód Zakončení Kredity Rozsah Jazyk výuky
B3M38DIT Z,ZK 7 3P+2L česky
Korekvizita:
Bezpečnost práce v elektrotechnice pro magistry (BEZM)
Přednášející:
Cvičící:
Předmět zajišťuje:
katedra měření
Anotace:

Předmět poskytuje úvod do problematiky detekce poruch, odolnosti proti poruchám, sledování provozního stavu zařízení, vibrodiagnostiky, nedestruktivního testování a diagnostiky elektronických zařízení s analogovými a číslicovými obvody.

Požadavky:
Osnova přednášek:

1. Diagnostika, prognostika, životní cyklus

2. Modely poruch, detekce pomocí modelů signálů/objektů

3. Spolehlivost

4. Odolnost vůči poruchám, statická/dynamická/analytická redundance, FMEA/FMECA

5. Hodnocení diagnostických metod (POD)

6. Zdroje a analýza diagnostických signálů, předzpracování

7. Obálková, kepstrální, řádová analýza, analýza nestacionárních signálů

8. Diagnostika mechanických, elektrických a elektromechanických systémů

9. Diagnostika pomocí impulsní a spojité akustické emise

10. Nedestruktivní testování, detekce a lokalizace

11. Nedestruktivní testování ultrazvukem, vířivými proudy, aktivní termografie

12. Testování analogových a číslicových obvodů, produkční diagnostika

13. In-circuit metody, Built-in Self Test, Design for Test

14. Navrhování testů, maskování, komprese testů. Boundary Scan

Součástí laboratorních cvičení bude samostatný projekt, zakončený prezentací nebo zprávou. Úspěšná obhajoba bude spolu se dvěma testy podmínkou zápočtu.

Osnova cvičení:

Laboratorní cvičení v první části demonstrují funkce vybraných diagnostických nástrojů, v druhé části je řešena samostatná úloha na vybrané téma z oblasti technické diagnostiky a testování.

Součástí laboratorních cvičení bude samostatný projekt, zakončený prezentací nebo zprávou. Úspěšná obhajoba bude spolu se dvěma testy podmínkou zápočtu.

Cíle studia:
Studijní materiály:

Základní:

[1] R. Isermann: Fault-Diagnosis Systems, Springer Verlag, 2006.

Doporučené:

[2] Ch. Hellier: Handbook of Nondestructive Evaluation, McGraw-Hill 2012.

[3] M. L. Bushnell, V.D. Agrawal: Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory, and Mixed-Signal VLSI Circuits, Springer, Boston, 2005.

(knihy nejsou vyprodány, zajistíme do knihovny)

Poznámka:
Další informace:
https://moodle.fel.cvut.cz/courses/B3M38DIT
Pro tento předmět se rozvrh nepřipravuje
Předmět je součástí následujících studijních plánů:
Platnost dat k 21. 9. 2019
Aktualizace výše uvedených informací naleznete na adrese http://bilakniha.cvut.cz/cs/predmet4672106.html