Difrakční analýza pevných látek

Vztahy:

Podmínkou zápisu na předmět 11DAPL je, že student úspěšně absolvoval 11SPLA nebo získal zápočet a nevyčerpal všechny zkouškové termíny předmětu 11SPLA. Předmět 11DAPL lze klasifikovat až po úspěšné klasifikaci předmětu 11SPLA

Garant předmětu:

Jiří Čapek, Nikolaj Ganev

Přednášející:

Jiří Čapek, Nikolaj Ganev

Cvičící:

Jiří Čapek, Nikolaj Ganev

Předmět zajišťuje:

katedra inženýrství pevných látek

Anotace:

Předmět obsahuje soubor základních poznatků difrakční analýzy pevných látek s důrazem na experimentální metody diagnostiky reální struktury polykrystalických materiálů.

Požadavky:

Osnova přednášek:

1.Principy difrakce rtg. záření na krystalech.

2.Vlastnosti a vznik rtg. záření.

3.Detektory rentgenových paprsků.

4.Principy experimentálních metod studia monokrystalů.

5.Rentgenová difrakce polykrystalických látek.

6.Stanovení mřížkových parametrů.

7.Kvalitativní a kvantitativní difrakční fázová analýza.

8.Difrakční texturní analýza.

9.Určování mikroskopických a makroskopických napětí.

10.Analýza difrakčního profilu - stanovení velikosti krystalitů.

11.Rietveldova analýza difrakčního diagramu.

12.Principy analýzy zpětně odrážených elektronů.

13.Základy neutronové a elektronové difrakce.

Osnova cvičení:

Cíle studia:

Studijní materiály:

Povinná literatura:

[1] E. Zolotoyabko: Basic Concepts of X-Ray Diffraction, Wiley, 2014, ISBN: 978-3-527-33561-9.

[2] M. Lee: X-Ray Diffraction for Materials Research: From Fundamentals to Applications, Apple Academic Press, 2016, ISBN: 9781771882989.

Doporučená literatura:

[3] G. S. Girolami: X-ray Crystallography, Univ Science Books; 1st ed., 2016, ISBN: 978-1891389771.

[4] B. B. He: Two-dimensional X-ray Diffraction, Wiley; 2nd edition, 2018, ISBN: 978-1119356103.

Poznámka:

Rozvrh na zimní semestr 2024/2025:

Rozvrh není připraven

Rozvrh na letní semestr 2024/2025:

Rozvrh není připraven

Předmět je součástí následujících studijních plánů:

• Fyzikální inženýrství - Inženýrství pevných látek (PS)