Logo ČVUT
ČESKÉ VYSOKÉ UČENÍ TECHNICKÉ V PRAZE
STUDIJNÍ PLÁNY
2019/2020

Speciální metody stanovení jakosti součástek

Přihlášení do KOSu pro zápis předmětu Zobrazit rozvrh
Kód Zakončení Kredity Rozsah Jazyk výuky
XP13SSD Z,ZK 4 2P+2L česky
Přednášející:
Václav Papež (gar.)
Cvičící:
Václav Papež (gar.)
Předmět zajišťuje:
katedra elektrotechnologie
Anotace:

Kontrola základních veličin určujících jakost pasivních a aktivních součástek. Metodika měření, jejich vyhodnocení, identifikace systematických chyb. Popis měřené součástky náhradním obvodem, čtyřpólové parametry součástky. Základní vlastnosti obvodů s rozloženými parametry. Přizpůsobení součástky v měřicím obvodu. Šum elektronických obvodů, šumové parametry, šumové a výkonové přizpůsobení. Nelinearita „lineárních“ obvodů, intermodulační zkreslení, měření nelinearity a intermodulací.

Požadavky:

Pro získání zápočtu se student účastní seminářů, odevzdá protokol z jedné laboratorní úlohy a získá minimálně 50 % z maximálního množství hodnotících bodů v testech

Osnova přednášek:

1. Úvod, metodika měření, analýza chyb

2. Měření napětí a přenosu

3. Ekvivalentní obvody, čtyřpólové pólové parametry

4. Komplexní měření impedance

5. Přizpůsobení v sítích

6. Distribuované obvody parametrů

7. Přenosové vedení

8. Šum v obvodech elektroniky, parametry šumu

9. Přizpůsobení pro maximální zisk a minimální šum

10. Měření šumu

11. Nelinearita nominálně lineárních elektronických komponent

12. Intermodulační zkreslení

13. Měření nelinearity a intermodulace

14. Měření elektromagnetické kompatibility

Osnova cvičení:

1.Bezpečnost v laboratoři, seznámení s úlohami 1. skupiny

2.Nelinearita a šum rezistorů

3.Přizpůsobebí výkonového zesilovače

4.VF přizpůsobovací obvody

5.Měření šumového čísla

6.Přizpůsobení v obvodech pro měření šumu

7.Seznámení s úlohami skupiny 2

8.Měření intermodulačního zkreslení

9.Měření nelinearity lineárních součástek

10.Transformátory a filtry s rozloženými parametry

11.Měření nelinearity lineárních součástek

12.Rorptylové parametry aktivního dvojbranu

13.Stabilita měřicího obvodu

14.Vyhodnocení referátů, zápočet

Cíle studia:

Studenti budou seznámeni s metodikou kontroly parametrů pasivnich a aktivnich elektronických součástek

Studijní materiály:

[1] Detlefsen, J. ; Siart, U.: Grundlagen der Hochfrequenztechnik. München: Oldenbourg, 2012

[2] Zinke, Brunswig, Lehrbuch der Hochfrequenztechnik, 3. Auflage, Springer-Verlag, Berlin 1986

Poznámka:
Další informace:
http://www.fel.cvut.cz/education/bk/predmety/11/85/p11850504.html
Rozvrh na zimní semestr 2019/2020:
Rozvrh není připraven
Rozvrh na letní semestr 2019/2020:
Rozvrh není připraven
Předmět je součástí následujících studijních plánů:
Platnost dat k 28. 1. 2020
Aktualizace výše uvedených informací naleznete na adrese http://bilakniha.cvut.cz/cs/predmet11850504.html