Praktikum ze struktury pevných látek

Garant předmětu:

Přednášející:

Cvičící:

Předmět zajišťuje:

katedra inženýrství pevných látek

Anotace:

Cílem předmětu je poskytnout studentům ucelený soubor praktických cvičení, který by jím umožnil získat přehled o základních možnostech difrakčních metod pro diagnostiku strukturně citlivých vlastností pevných látek.

Požadavky:

Předpokládá se absolvování předmětu ze struktury pevných látek (SPL2 na FJFI) a složení zkoušky z nej.

Osnova přednášek:

Osnova cvičení:

1. Experimentální zařízení pro rentgenovou a neutronovou difrakční analýzu.

2. Laueho metoda, orientace monokrystalů.

3. Rietveldovská analýza polykrystalických látek.

4. Kvalitativní difrakční fázová analýza.

5. Rentgenová texturní analýza.

6. Analýza profilů difrakčních linií.

7. Rentgenografická analýza tepelné relaxace napětí.

8. Použití neutronové difrakce pro určovaní textur.

9. ODF - matematický aparát pro kvantitativní texturní analýzu.

10. Rentgenová fluorescenční analýza.

11. Řešení struktur z monokrystalů.

Cíle studia:

Znalosti:

Probloubení znalostí struktury pevných látek.

Schopnosti:

Experimentální schopnost sestavit a vyhodnotit experiment ze struktury pevných látek.

Studijní materiály:

Povinná literatura:

[1]. R. Guinebretiere: X-ray Diffraction by Polycrystalline Materials, ISTE, 2007.

Doporučená literatura:

[2]. C. Giacovazzo et al.: Fundamentals of Crystallography, Oxford University Press, NY 1992.

[3]. R. Jenkins, R. L. Snyder: Introduction to X-ray Powder Diffractometry, John Wiley and Sons, NY 1996.

Poznámka:

Další informace:

Pro tento předmět se rozvrh nepřipravuje

Předmět je součástí následujících studijních plánů:

• Inženýrství pevných látek (povinně volitelný předmět)