Logo ČVUT
ČESKÉ VYSOKÉ UČENÍ TECHNICKÉ V PRAZE
STUDIJNÍ PLÁNY
2023/2024
UPOZORNĚNÍ: Jsou dostupné studijní plány pro následující akademický rok.

Noncontact Measuring Methods of Experimental Mechanics

Přihlášení do KOSu pro zápis předmětu Zobrazit rozvrh
Kód Zakončení Kredity Rozsah Jazyk výuky
D02BEM_EN ZK 2P anglicky
Garant předmětu:
Jiří Novák
Přednášející:
Jiří Novák
Cvičící:
Předmět zajišťuje:
katedra fyziky
Anotace:

Noncontact optical and electronic methods for measurement of macrotopography and microtopography of surfaces. Optical methods of deformation and displacement measurement. Noncontact vibration measurements and measurements of velocity and flow using optolelectronic techniques.

Požadavky:

none

Osnova přednášek:

1. Methods of generation and detection of physical fields.

2. Methods of optical microscopy

3. Modern interferometric methods

4. Optical deflectometry. Scattering methods - BRDF, TIS

5. AFM, electron microscopy methods - SEM, TEM

6. Moiré methods

7. Holographic interferometry

8. Speckle interferometry, ESPI

9. Digital photoelasticity. Correlation methods - DIC.

10. Triangulation methods. Photogrammetry.

11. Projection methods.

12. Optical coherence tomography.

13. Doppler laser vibrometry and anemometry.

Osnova cvičení:

The course has no exercises

Cíle studia:

The aim of the course is to provide students with knowledge in the field of non-contact methods of measuring macro and microtopography of surfaces, methods of measuring deformation, stress, displacement, distance, vibration and velocity that can be applied in the field of experimental mechanics, physical and material engineering.

Studijní materiály:

1. W.N.Sharpe: Springer Handbook of Experimental Solid Mechanics, Springer 2008.

2. C.M.Tropea: Springer Handbook of Experimental Solid Mechanics, Springer 2007.

3. T. Yoshizawa: Handbook of Optical Metrology: Principles and Applications, CRC Press; 2009.

4. G.Cloud: Optical Methods of Engineering Analysis. Cambridge University Press, 1998.

5. J.Goldstein: Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis. Springer; 3rd ed. Berlin 2003.

6. W.Zhou, Z.L.Wang: Scanning Microscopy for Nanotechnology: Techniques and Applications, Springer, Berlin 2006.

Poznámka:

FMI

Rozvrh na zimní semestr 2023/2024:
Rozvrh není připraven
Rozvrh na letní semestr 2023/2024:
Rozvrh není připraven
Předmět je součástí následujících studijních plánů:
Platnost dat k 13. 4. 2024
Aktualizace výše uvedených informací naleznete na adrese https://bilakniha.cvut.cz/cs/predmet6088106.html