Materiály a technologie pro fotonické součástky a struktury
Kód | Zakončení | Kredity | Rozsah | Jazyk výuky |
---|---|---|---|---|
XP34MTP | ZK | 3 | 2P | česky |
- Garant předmětu:
- Václav Prajzler
- Přednášející:
- Václav Prajzler
- Cvičící:
- Václav Prajzler
- Předmět zajišťuje:
- katedra mikroelektroniky
- Anotace:
-
The students get acquainted with optical materials such as semiconductors, optical glass, crystals, and polymers. The students get acquainted also with technologies for the fabrication of optical and optoelectronic devices and structures. It will be present technologies for deposition of the micro and nano layers deposition.
Students will be introduced to new modern technologies and it will be shown principles of integrated optoelectronic devices and structures. It will be also shown the design of the photonic structures and diagnostic methods for the measurement of the optical and optoelectronic properties.
- Požadavky:
-
Tento předmět navazuje na látku probranou ve výše uvedených magisterských předmětech.B2M34PIO nebo BE2M34PIO.
- Osnova přednášek:
-
1. Základní a pokročilé přístupy pro optiku a fotoniku
2. Základy návrhu fotonických struktur
3. Planární optické vlnovody
4. Vláknová technologie a pokročilé vláknové struktury
5. Materiály pro fotoniku a optoelektroniku - polovodiče
6. Materiály pro fotoniku a optoelektroniku - optické skla a krystaly
7. Materiály pro fotoniku a optoelektroniku - polymery
8. Pokročilé technologické metody
9. Technologické přístupy pro tlusté a tenké vrstvy
10. Technologické přístupy pro fotonické aplikace
11. Technologické přístupy pro nano fotonické struktury
12. Technologie pro nositelnou elektroniku a fotoniku
13. Diagnostické a měřící metody - fyzikální vlastnosti
14. Diagnostické a měřící metody - optické vlastnosti
- Osnova cvičení:
-
1. RSOFT úvod
2. RSOFT návrh základních struktur
3. RSOFT návrh - individuální projekt
4. RSOFT návrh - individuální projekt
5. OPTICAD úvod
6. OPTICAD návrh - individuální projekt
7. Technologie pro fotonické aplikace
8. Litohrafické procesy
9. technologie pro tenké vrstvy a nanostruktury
10. Měřící metody - 3D konfokální ramanův spektrometr
11. Měřící metody - tmavá vidová spektroskopie
12. Měřící metody - měření optického pole
13. Měřící metody - optický spektrální analyzátor
14. Prezenatce semestrálních prací
- Cíle studia:
-
Cílem předmětu je posluchače seznámit s novými technologiemi pro fotonické a optické součástky. Posluchači budou seznámeni s novými materiály, ze kterých jsou fotonické struktury vyráběny. Pozornost bude také věnována diagnostickým metodám pro charakterizaci a měření vlastností fotonických struktur. Studenti se seznámí s návrhem struktur pomocí specializovaných návrhových prostředků.
- Studijní materiály:
-
S.O. Kasap, Ruda Harry E., B. Yann: Cambridge illustrated handbook of optoelectronics and photonics, Cambridge : Cambridge University Press, 2009. ISBN: 978-0-521-81596-3
G.T. Reed: Silicon on Photonics, John Wiley&Sons Ltd 2008.
P.N. Prasad: Nanophotonics, Wiley-Interscience, 2004.
J. Hongrui, Z. Xuefeng: Microlenses : properties, fabrication and liquid lenses. Boca Raton : CRC Press, 2013. ISBN: 978-1-4398-3669-9.
S. Shichi, O. Katsunari: New photonics technologies for the information age : the dream of ubiquitous services. Boston : Artech House, 2004. ISBN: 1-58053-696-4.
L. Pavesi, D.J. Lockwood: Silicon Photonics, Springer-Verlag Berlin Heidelberg 2004.
- Poznámka:
- Rozvrh na zimní semestr 2024/2025:
- Rozvrh není připraven
- Rozvrh na letní semestr 2024/2025:
- Rozvrh není připraven
- Předmět je součástí následujících studijních plánů:
-
- Doktorské studium, prezenční forma (povinně volitelný předmět)
- Doktorské studium, kombinovaná forma (povinně volitelný předmět)