Aplikace rentgenové difrakční analýzy

Garant předmětu:

Přednášející:

Cvičící:

Předmět zajišťuje:

katedra inženýrství pevných látek

Anotace:

Cíle předmětu:

Seznámení s difrakční analýzou pevných látek, získání praktických dovedností během cvičení v Laboratoři strukturní rentgenografie.

Obsahové zaměření:

Předmět obsahuje soubor základních poznatků difrakční analýzy pevných látek s důrazem na experimentální metody diagnostiky reálné struktury polykrystalických materiálů.

Přednášky jsou doplněny praktickými cvičeními (ukázkami) v Laboratoři strukturní rentgenografie KIPL FJFI podle tematického zaměření prací doktorandů.

Požadavky:

Absolvování předmětu předpokládá základní vědomosti z fyziky pevných látek/kovů

Osnova přednášek:

Základní témata:

1.Principy difrakce rtg. záření na krystalech.

2.Vlastnosti a vznik rtg. Záření.

3.Detektory rentgenových paprsků.

4.Principy experimentálních metod studia monokrystalů.

5.Rentgenová difrakce polykrystalických látek.

6.Stanovení mřížkových parametrů.

7.Kvalitativní a kvantitativní difrakční fázová analýza.

8.Difrakční texturní analýza.

9.Určování mikroskopických a makroskopických napětí.

10.Analýza difrakčního profilu - stanovení velikosti krystalitů.

11.Základy neutronové a elektronové difrakce.

Osnova cvičení:

Cíle studia:

Studijní materiály:

Základní:

[1]C. Giacovazzo et al.: Fundamentals of Crystallography, Oxford University Press, NY 1992.

[2]R. Jenkins, R. L. Snyder: Introduction to X-ray Powder Diffractometry, John Wiley and Sons, NY 1996.

[3]B. D. Culity, S. R. Stock: Elements of X-Ray Diffraction, Prentice Hall; 3 edition , NY 2001

Doporučená:

[4]V. Pecharsky, P. Zavalij: Fundamentals of Powder Diffraction and Structural Characterization of Materials. Second edition, Springer, 2008.

[5]R. Guinebretiere: X-ray Diffraction by Ploykrystalline Materials, ISTE, 2007

Poznámka:

odvozen z D11RDT na základě žádosti prof. Ganeva

Další informace:

Pro tento předmět se rozvrh nepřipravuje

Předmět je součástí následujících studijních plánů: