Diagnostika a testování

Korekvizita:

Přednášející:

Radislav Šmíd (gar.)

Cvičící:

Radislav Šmíd (gar.), Stanislav Drozd, Ondrej Tereň

Předmět zajišťuje:

katedra měření

Anotace:

Předmět poskytuje úvod do problematiky detekce poruch, odolnosti proti poruchám, sledování provozního stavu zařízení, vibrodiagnostiky, nedestruktivního testování a diagnostiky elektronických zařízení s analogovými a číslicovými obvody.

Požadavky:

Osnova přednášek:

1. Diagnostika, prognostika, životní cyklus

2. Modely poruch, detekce pomocí modelů signálů/objektů

3. Spolehlivost

4. Odolnost vůči poruchám, statická/dynamická/analytická redundance, FMEA/FMECA

5. Hodnocení diagnostických metod (POD)

6. Zdroje a analýza diagnostických signálů, předzpracování

7. Obálková, kepstrální, řádová analýza, analýza nestacionárních signálů

8. Diagnostika mechanických, elektrických a elektromechanických systémů

9. Diagnostika pomocí impulsní a spojité akustické emise

10. Nedestruktivní testování, detekce a lokalizace

11. Nedestruktivní testování ultrazvukem, vířivými proudy, aktivní termografie

12. Testování analogových a číslicových obvodů, produkční diagnostika

13. In-circuit metody, Built-in Self Test, Design for Test

14. Navrhování testů, maskování, komprese testů. Boundary Scan

Součástí laboratorních cvičení bude samostatný projekt, zakončený prezentací nebo zprávou. Úspěšná obhajoba bude spolu se dvěma testy podmínkou zápočtu.

Osnova cvičení:

Laboratorní cvičení v první části demonstrují funkce vybraných diagnostických nástrojů, v druhé části je řešena samostatná úloha na vybrané téma z oblasti technické diagnostiky a testování.

Součástí laboratorních cvičení bude samostatný projekt, zakončený prezentací nebo zprávou. Úspěšná obhajoba bude spolu se dvěma testy podmínkou zápočtu.

Cíle studia:

Studijní materiály:

Základní:

[1] R. Isermann: Fault-Diagnosis Systems, Springer Verlag, 2006.

Doporučené:

[2] Ch. Hellier: Handbook of Nondestructive Evaluation, McGraw-Hill 2012.

[3] M. L. Bushnell, V.D. Agrawal: Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory, and Mixed-Signal VLSI Circuits, Springer, Boston, 2005.

(knihy nejsou vyprodány, zajistíme do knihovny)

Poznámka:

Další informace:

https://moodle.fel.cvut.cz/courses/B3M38DIT

Rozvrh na zimní semestr 2022/2023:

	06:00–08:0008:00–10:0010:00–12:0012:00–14:0014:00–16:0016:00–18:0018:00–20:0020:00–22:0022:00–24:00
Po
Út
St	místnost T2:C3-135 Šmíd R. 09:15–10:45 (přednášková par. 1) Dejvice T2:C3-135
Čt	místnost T2:B3-359 Drozd S. 16:15–17:45 Dejvice Laboratoř
Pá

Rozvrh na letní semestr 2022/2023:

Rozvrh není připraven

Předmět je součástí následujících studijních plánů:

• Kybernetika a robotika - Systémy a řízení 2016 (povinný předmět programu)
• Kybernetika a robotika - Robotika 2016 (povinný předmět programu)
• Kybernetika a robotika - Senzory a přístrojová technika 2016 (povinný předmět programu)
• Kybernetika a robotika - Letecké a kosmické systémy 2016 (povinný předmět programu)
• Kybernetika a robotika - Kybernetika a robotika 2016 (povinný předmět programu)