Diagnostika a testování
Kód | Zakončení | Kredity | Rozsah | Jazyk výuky |
---|---|---|---|---|
B3M38DIT | Z,ZK | 7 | 3P+2L | česky |
- Korekvizita:
- Přednášející:
- Radislav Šmíd (gar.)
- Cvičící:
- Radislav Šmíd (gar.), Stanislav Drozd, Ondrej Tereň
- Předmět zajišťuje:
- katedra měření
- Anotace:
-
Předmět poskytuje úvod do problematiky detekce poruch, odolnosti proti poruchám, sledování provozního stavu zařízení, vibrodiagnostiky, nedestruktivního testování a diagnostiky elektronických zařízení s analogovými a číslicovými obvody.
- Požadavky:
- Osnova přednášek:
-
1. Diagnostika, prognostika, životní cyklus
2. Modely poruch, detekce pomocí modelů signálů/objektů
3. Spolehlivost
4. Odolnost vůči poruchám, statická/dynamická/analytická redundance, FMEA/FMECA
5. Hodnocení diagnostických metod (POD)
6. Zdroje a analýza diagnostických signálů, předzpracování
7. Obálková, kepstrální, řádová analýza, analýza nestacionárních signálů
8. Diagnostika mechanických, elektrických a elektromechanických systémů
9. Diagnostika pomocí impulsní a spojité akustické emise
10. Nedestruktivní testování, detekce a lokalizace
11. Nedestruktivní testování ultrazvukem, vířivými proudy, aktivní termografie
12. Testování analogových a číslicových obvodů, produkční diagnostika
13. In-circuit metody, Built-in Self Test, Design for Test
14. Navrhování testů, maskování, komprese testů. Boundary Scan
Součástí laboratorních cvičení bude samostatný projekt, zakončený prezentací nebo zprávou. Úspěšná obhajoba bude spolu se dvěma testy podmínkou zápočtu.
- Osnova cvičení:
-
Laboratorní cvičení v první části demonstrují funkce vybraných diagnostických nástrojů, v druhé části je řešena samostatná úloha na vybrané téma z oblasti technické diagnostiky a testování.
Součástí laboratorních cvičení bude samostatný projekt, zakončený prezentací nebo zprávou. Úspěšná obhajoba bude spolu se dvěma testy podmínkou zápočtu.
- Cíle studia:
- Studijní materiály:
-
Základní:
[1] R. Isermann: Fault-Diagnosis Systems, Springer Verlag, 2006.
Doporučené:
[2] Ch. Hellier: Handbook of Nondestructive Evaluation, McGraw-Hill 2012.
[3] M. L. Bushnell, V.D. Agrawal: Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory, and Mixed-Signal VLSI Circuits, Springer, Boston, 2005.
(knihy nejsou vyprodány, zajistíme do knihovny)
- Poznámka:
- Další informace:
- https://moodle.fel.cvut.cz/courses/B3M38DIT
- Rozvrh na zimní semestr 2022/2023:
-
06:00–08:0008:00–10:0010:00–12:0012:00–14:0014:00–16:0016:00–18:0018:00–20:0020:00–22:0022:00–24:00
Po Út St Čt Pá - Rozvrh na letní semestr 2022/2023:
- Rozvrh není připraven
- Předmět je součástí následujících studijních plánů:
-
- Kybernetika a robotika - Systémy a řízení 2016 (povinný předmět programu)
- Kybernetika a robotika - Robotika 2016 (povinný předmět programu)
- Kybernetika a robotika - Senzory a přístrojová technika 2016 (povinný předmět programu)
- Kybernetika a robotika - Letecké a kosmické systémy 2016 (povinný předmět programu)
- Kybernetika a robotika - Kybernetika a robotika 2016 (povinný předmět programu)