Analytické metody využívající ionizující záření

Garant předmětu:

Tomáš Čechák

Přednášející:

Tomáš Čechák

Cvičící:

Předmět zajišťuje:

katedra dozimetrie a aplikace ionizujícího záření

Anotace:

Cíle předmětu:

Seznámit posluchače s analytickými metodami založenými na využití ionizujícího záření, se SW umožňujícím zpracovat naměřená data, s výhodami a omezeními těchto metod.

Obsahové zaměření:

Analytické metody využívající ionizující záření. Důraz je kladen na praktické využití nejrozšířenějších metod: Energiově a vlnově dispersní XRF, PIXE, el. mikrosondu, aktivační analýzu, využití promptního gama atd.

Základní témata:

1.Energiově dispersní rentgenfluorescenční analýza.

2.Vlnově dispersní rentgenfluorescenční analýza.

3.Vyhodnocování spekter charakteristického záření.

4.PIXE ? Particle Induced X-Ray Emission.

5.Elektronová mikrosonda.

6.Kvantitativní analýza, matricové jevy.

7.Aktivační analýza.

8.Promptní gama záření ? kvantitativní analýza.

9.Ruthefordův zpětný rozptyl a jeho využití k analytickým účelům.

10.Indikátorové metody ? aplikace v průmyslu.

Požadavky:

Vstupní požadavky:

Absolvování magisterského oboru Jaderné inženýrství na FJFI nebo jiného blízkého oboru a prokázání požadovaných okruhů znalostí v rámci přijímacího řízení.

Osnova přednášek:

Základní témata:

1.Energiově dispersní rentgenfluorescenční analýza.

2.Vlnově dispersní rentgenfluorescenční analýza.

3.Vyhodnocování spekter charakteristického záření.

4.PIXE ? Particle Induced X-Ray Emission.

5.Elektronová mikrosonda.

6.Kvantitativní analýza, matricové jevy.

7.Aktivační analýza.

8.Promptní gama záření ? kvantitativní analýza.

9.Ruthefordův zpětný rozptyl a jeho využití k analytickým účelům.

10.Indikátorové metody ? aplikace v průmyslu.

Osnova cvičení:

Cíle studia:

Cíle předmětu:

Seznámit posluchače s analytickými metodami založenými na využití ionizujícího záření, se SW umožňujícím zpracovat naměřená data, s výhodami a omezeními těchto metod.

Studijní materiály:

Základní:

1.R. E. Van Grieken, A. A. Markowicz: Handbook of X-Ray Spectrometry, 2th Edition, Marcel Dekker, New York, 2002.

2.B. Beckhoff, et al.: Handbook of Practical X-Ray Fluorescence Analysis, Springer Verlag Berlin, 2006.

3.Database of Prompt Gamma Rays from Slow Neutron Capture for Elemental Analysis, IAEA, Vienna, 2007.

Doporučená:

4.R. J. Rousseau: Corrections for matrix effects in X-ray fluorescence analysis - A tutorial, Spectrochimica Acta, Part B 61, 759 - 777, 2006.

5.J. Thýn, R. Žitný, J. Klusoň, T. Čechák: Analysis and Diagnostics of Industrial Processes by Radiotracers and Radioisotope Dealer Sources, Vydavatelství ČVUT, Praha, 2000.

Poznámka:

Další informace:

Pro tento předmět se rozvrh nepřipravuje

Předmět je součástí následujících studijních plánů: