Úvod do fyziky pevných látek

Garant předmětu:

Přednášející:

Cvičící:

Předmět zajišťuje:

katedra inženýrství pevných látek

Anotace:

Cíle předmětu:

Seznámit se s principem, možnostmi a omezeními difrakční analýzy makroskopických zbytkových napětí v polykrystalických materiálech.

Obsahové zaměření:

Teorie difrakční tenzometrie, účast na řešení konkrétního úkolu RTG laboratoře katedry inženýrství pevných látek.

Požadavky:

11SPL1, 11SPL2

Vypracování protokolu z praktických cvičení, která navazují na teoretickou část předmětu.

Osnova přednášek:

Základní témata:

1. Princip difrakčního měření mřížkových deformací.

2. Pojem napětí a deformace.

3. Metodika měření stavu zbytkové napjatosti monochromatickým zářením.

4. Faktory ovlivňující difrakční tenzometrická měření.

5. Nedifrakční metody měření zbytkových napětí.

6. Příklady aplikací rtg metod na homogenní i nehomogenní stavy zbytkové napjatosti.

7. Praktická cvičení ? účast na řešení aktuálního problému

Osnova cvičení:

Cíle studia:

Znalosti:

Princip určení mechanických napětí difrakčními metodami.

Schopnosti:

Orientovat se v problematice nedestruktivní analýzy napětí.

Studijní materiály:

Základní:

[1] Kraus, I., Ganev, N: Difrakční analýza mechanických napětí. Vydavatelství ČVUT, Praha 1995.

[2] Kraus, I., Ganev, N.: Technické aplikace difrakční analýzy. Vydavatelství ČVUT, Praha 2004.

Doporučená:

[3] I. Kraus, V. V. Trofimov: Rentgenová tenzometrie. Academia, Praha 1988.

[4] F. H. Chung, D. K. Smith (eds.): Industrial Application of X-Ray Diffraction. Marcel Dekker, Inc., New York-Basel 2000.

Poznámka:

Další informace:

Pro tento předmět se rozvrh nepřipravuje

Předmět je součástí následujících studijních plánů: