Struktura pevných látek 2

Garant předmětu:

Přednášející:

Cvičící:

Předmět zajišťuje:

katedra inženýrství pevných látek

Anotace:

Předmět obsahuje soubor základních poznatků difrakční analýzy pevných látek s důrazem na experimentální metody diagnostiky reální struktury polykrystalických materiálů.

Požadavky:

Základní znalosti krystalografie a sruktury pevných látek.

Osnova přednášek:

1. Principy difrakce rtg. záření na krystalech

2. Vlastnosti a vznik rtg. záření

3. Detektory rentgenových paprsků

4. Principy experimentálních metod studia monokrystalů

5. Rentgenová difrakce polykrystalických látek

6. Stanovení mřížkových parametrů

7. Kvalitativní a kvantitativní difrakční fázová analýza

8. Difrakční texturní analýza

9. Určování mikroskopických a makroskopických napětí

10. Analýza difrakčního profilu - stanovení velikosti krastalitů

11. Základy neutronové a elektronové difrakce.

Osnova cvičení:

Cíle studia:

Znalosti:

Pokročilé znalosti stuktury pevných látek.

Schopnosti:

Posluchači po absolvování předmětu ovládají principy experimentálního studia pevných látek pomocí difrakce a jsou schopní navštěvovat Praktikum ze struktury pevných látek (PSPL), kde je připravený soubor praktických cvičení z aplikace rtg a neutronové difrakce pro studium reálné struktury krystalických látek.

Studijní materiály:

Povinná literatura:

[1]. V. Pecharsky, P. Zavalij: Fundamentals of Powder Diffraction and Structural Characterization of Materials. Second edition, Springer, 2008.

Doporučená literatura:

[2]. R. Guinebretiere: X-ray Diffraction by Ploykrystalline Materials, ISTE, 2007.

[3]. C. Giacovazzo et al.: Fundamentals of Crystallography, Oxford University Press, NY 1992.

[4]. R. Jenkins, R. L. Snyder: Introduction to X-ray Powder Diffractometry, John Wiley and Sons, NY 1996.

Poznámka:

Další informace:

Pro tento předmět se rozvrh nepřipravuje

Předmět je součástí následujících studijních plánů: