Videometrie a bezdotyková měření

Přednášející:

Cvičící:

Předmět zajišťuje:

katedra měření

Anotace:

Předmět se věnuje problematice optoelektronických senzorů (především CCD) a

jejich použití v systémech bezkontaktního měření na principech videometrie.

Detailně je prezentována problematika CCD řádkových a plošných senzorů,

návrh měřicích kamer a metodika zpracování jejich signálu. Jako důležité

součásti videometrického systému jsou prezentovány optická zobrazovací

soustava a osvětlovací systém. Dále pak jsou uvedeny základní výpočty

potřebné pro jejich volbu.

Požadavky:

Osnova přednášek:

1. Úvod do problematiky videometrie a bezdotykového měření

2. Bezdotykové měření

3. Rozbor metod videometrie a mezí jejich použitelnosti

4. Zdroje záření, osvětlovací zdroje pro měření

5. Návrh fotodiodových snímačů polohy a jejich elektronických obvodů

6. CCD lineární a plošné senzory, vlastnosti a analýza chyb

7. Návrh řídicích obvodů CCD senzorů, televizní norma

8. Analogové obvody pro zpracování signálu z CCD senzorů,

9. Digitalizace videosignálu a jeho přenos do mikropočítače

10. Volba a výpočet vlastností použité optické soustavy

11. Zvyšování rozlišovací schopnosti při měření rozměrů s CCD

12. Použití CCD-TV kamery pro měření ve videometrii

13. Triangulační metody určování polohy a tvaru těles

14. Návrh automatických výrobních inspekčních systémů

Osnova cvičení:

1. Úvod to problematiky

2. Měření polohy kruhovou diferenciální diodou

3. Měření vlastností PSD senzoru

4. Měření citlivosti optoelektronických senzorů

5. Měření videosignálu CCD -TV monochromatické a barevné kamery pro CCTV podle normy CCIR, PAL

6. Měření velikosti plochy CCD kamerou a digitalizátorem obrazu s PC

7. Měření CCD řádkového senzoru

8. Kontrola rozměrů a tvaru kovových výlisků CCD kamerou

9. CCD řádková kamera, přesné měření rozměrů

10. Měření kruhovitosti plošných objektů

11. Zjišťování geometrických chyb systému s CCD kamerou

12. Základní metody číslicového zpracování obrazu pro měření geometrických veličin

13. Automatická výrobní inspekce kompaktním systémem MDTR, parametrizace pro kontrolu rozměrů

14. Vyhodnocení výsledků měření.

Cíle studia:

Studijní materiály:

1. Vobecký, J., Záhlava, V.: Elektronika. Grada, Praha 2001

2. Singh, J.: Optoelectronics - an Introduction to Materials and Devices. McGraw-Hill, 1996

3. www.dalsa.com

4. www.kodak.com

Poznámka:

http://measure.feld.cvut.cz/groups/edu/x38vbm/index.htm

Další informace:

Pro tento předmět se rozvrh nepřipravuje

Předmět je součástí následujících studijních plánů:

• Kybernetika a měření - měřicí a přístrojové systémy- strukturované studium (povinný předmět)