Diagnostika číslicových zařízení

Předmět je náhradou za:

Diagnostika číslicových zařízení (38DCZ)

Přednášející:

Cvičící:

Předmět zajišťuje:

katedra měření

Anotace:

Předmět je zaměřen na metody testování a měření v číslicových zařízeních. Popisuje funkce a metody použití přístrojů používaných v číslicové technice (číslicové osciloskopy, logické analyzátory). V teoretičtěji orientované části seznamuje se základy šíření číslicových signálů vedením, reflektometrií a metastabilitou. Dále se zabývá měřením na standardních počítačových sběrnicích a sériových komunikačních linkách. V závěru je představena technologie JTAG, určená pro testování číslicových systémů metodou „boundary scan“.

Požadavky:

Osnova přednášek:

1. Číslicová měření - účel, metody a prostředky

2. Výrobní technologie logických obvodů a její vliv při měření

3. Logické sondy, pulsery, generátory číslicových dat

4. Analogové osciloskopy - speciální funkce, parametry a příslušenství

5. Číslicové osciloskopy - DSO a DPO, speciální spouštění, parametry a příslušenství

6. Metodika a příklady využití osciloskopů v číslicové technice

7. Šíření číslicových signálů vedením, reflektometrie (TDR)

8. Logické analyzátory - speciální funkce, spouštění, parametry a příslušenství

9. Metodika a příklady využití logických analyzátorů v číslicové technice

10. Metastabilita a synchronizace

11. Měření na standardních paralelních sběrnicích a rozhraních (PCI,...)

12. Měření a diagnostika sériových komunikačních kanálů

13. Diagnostická metoda „Boundary Scan“, rozhraní JTAG

14. Metody a prostředky produkční diagnostiky elektronických zařízení

Osnova cvičení:

1. Úvod - rozdělení, bezpečnost práce

2. Měření statických parametrů integrovaných obvodů různých technologií

3. Měření dynamických parametrů integrovaných obvodů různých technologií

4. Digitální osciloskop - měření pro pokročilé

5. Logický analyzátor - měření pro pokročilé

6. Diagnostika rozhraní Centronics

7. Sledování sběrnice PCI logickým analyzátorem

8. Reflektometrie - diagnostika kabeláže a měření parametrů vedení

9. Metastabilní chování klopných obvodů

10. Měření na sériových komunikačních kanálech

11. Vliv měřicího řetězce na parametry měřených signálů

12. Analýza činnosti mikroprocesoru logickým analyzátorem

13. Diagnostika metodou Boundary Scan (JTAG)

14. Závěrečné cvičení - náhrady a zápočty

Cíle studia:

Studijní materiály:

1. Kreidl, M. a kol.: Diagnostické systémy. Vydavatelství ČVUT, Praha 2001

2. Haasz, V., Novák, J.: Měření na číslicových obvodech, ČVUT Praha 2006

3. Johnson, H., Graham, M.: High-Speed Digital Design, Prentice Hall 1993

4. Johnson, H., Graham, M.: High-Speed Signal Propagation, Prentice Hall 2003

5. www.tektronix.com

6. www.agilent.com

7. www.ti.com

Poznámka:

Rozsah výuky v kombinované formě studia: 12+6

Typ cvičení: l

Předmět je nabízen také v anglické verzi.

Bc. - F

z http://measure.feld.cvut.cz/cs/vyuka/predmety/X38DCZ

Další informace:

Pro tento předmět se rozvrh nepřipravuje

Předmět je součástí následujících studijních plánů:

• Společný plán- strukturované studium (volitelný předmět odborný)
• Výpočetní technika- strukturované studium (volitelný předmět odborný)
• Elektronika a sdělovací technika - strukturované studium (volitelný předmět odborný)
• Kybernetika a měření- strukturované studium (volitelný předmět odborný)
• Silnoproudá elektrotechnika- strukturované studium (volitelný předmět odborný)