Diagnostika číslicových zařízení

Předmět je náhradou za:

Diagnostika číslicových zařízení (X38DCZ)

Přednášející:

Cvičící:

Předmět zajišťuje:

katedra měření

Anotace:

Předmět je zaměřen na metody testování a měření v číslicových zařízeních. Popisuje základní přístroje - např. analogové a digitální osciloskopy, logické a speciální analyzátory - a metody jejich použití. V teoretičtěji orientované části seznamuje se základy šíření číslicových signálů, reflektometrií a metastabilitou. Dále se zabývá měřením na standardních počítačových sběrnicích (ISA, PCI, SCSI) a měřením na sériových komunikačních linkách (RS-232, RS- 485). V závěru je představena technologie JTAG, určená pro testování číslicových systémů metodou „boundary scan“.

Požadavky:

Osnova přednášek:

1. Číslicová měření - účel, metody a prostředky

2. Výrobní technologie logických obvodů a její vliv při měření

3. Základní měřicí pomůcky - logické sondy a pulsery

4. Analogové osciloskopy - funkce, parametry a příslušenství

5. Číslicové osciloskopy - funkce, parametry a příslušenství

6. Metodika a příklady využití osciloskopů v číslicové technice

7. Praktický pohled na šíření digitálních signálů

8. Logické analyzátory - funkce, parametry a příslušenství

9. Metodika a příklady využití logických analyzátorů v číslicové technice

10. Metastabilita a synchronizace

11. Měření na standardních sběrnicích - ISA, VME, PCI , ...

12. Diagnostika sběrnice SCSI

13. Diagnostické rozhraní JTAG, boundary scan

14. Měření a diagnostika sériových sběrnic a kanálů

Osnova cvičení:

1. Úvod - rozdělení, bezpečnost práce

2. Měření statických parametrů integrovaných obvodů různých technologií

3. Měření dynamických parametrů integrovaných obvodů různých technologií

4. Digitální osciloskop - měření v číslicových zařízeních pro pokročilé

5. Logický analyzátor - měření pro pokročilé

6. Diagnostika rozhraní Centronics

7. Sledování sběrnice ISA logickým analyzátorem

8. Diagnostika SCSI rozhraní, použití specializovaného analyzátoru SCSI

9. Implementace příznakové analýzy v mikroprocesorovém systému

10. Měření na sériových sběrnicích

11. Reflektometrie - diagnostika kabeláže

12. Analýza činnosti mikroprocesoru logickým analyzátorem

13. Jednoduchá diagnostika systému s rozhraním JTAG

14. Závěrečné cvičení - náhrady a zápočty

Cíle studia:

Studijní materiály:

[1] Kreidl, M. a kol.: Diagnostické systémy. Vydavatelství ČVUT, Praha 2001

[2] www.tektronix.com

[3] www.agilent.com

[4] www.ti.com

Poznámka:

Rozsah výuky v kombinované formě studia: 14+4

Typ cvičení: l

Předmět je nabízen také v anglické verzi.

Další informace:

Pro tento předmět se rozvrh nepřipravuje

Předmět je součástí následujících studijních plánů: