Logo ČVUT
ČESKÉ VYSOKÉ UČENÍ TECHNICKÉ V PRAZE
STUDIJNÍ PLÁNY
2019/2020

Experimentální metody studia materiálů

Přihlášení do KOSu pro zápis předmětu Zobrazit rozvrh
Kód Zakončení Kredity Rozsah Jazyk výuky
2321505 Z,ZK 5 2P+2L česky
Přednášející:
Jakub Horník (gar.), Ladislav Cvrček, Elena Čižmárová, Jakub Horváth, Zdeňka Jeníková, Stanislav Krum, Jana Sobotová, Zdeněk Tolde
Cvičící:
Jakub Horník (gar.), Ladislav Cvrček, Elena Čižmárová, Jakub Horváth, Zdeňka Jeníková, Stanislav Krum, Jana Sobotová, Zdeněk Tolde
Předmět zajišťuje:
ústav materiálového inženýrství
Anotace:

Metody analýzy materiálů se zaměřením na analýzy strukturní, fázové, textur a pro analýzu mřížkových vad a stanovení zbytkových pnutí (rentgenová a elektronová difraktografie). Metody zobrazovací: světelná a elektronová mikroskopie (příprava vzorků a charakteristiky zobrazení, teorie kontrastu). Pokročilé metody zobrazování a chemické mikroanalýzy: řádkovací elektronová mikroskopie.

Požadavky:
Osnova přednášek:

•Světelná mikroskopie (příprava vzorků a charakteristiky zobrazení, teorie kontrastu)

•Konfokální mikroskopie, metody světelné spektroskopie pro analýzu (GDOES, atd.)

•Elektrony, interakce se vzorkem, transmisní elektronová mikroskopie (princip, příprava vzorků)

•Transmisní elektronová mikroskopie (charakteristiky zobrazení, teorie kontrastu)

•Speciální metody TEM (HV TEM, HR TEM)

•Skenovací elektronová mikroskopie (princip, příprava vzorků)

•Skenovací elektronová mikroskopie (charakteristiky zobrazení, teorie kontrastu)

•Elektronová difraktografie (pro fázovou analýzu, pro určení zbytkových pnutí, textur a pro analýzu mřížkových vad)

•Rentgenová spektroskopie a mikroanalýza chemického složení, EDS, WDS, XRS

•Metody SPM

•Kvantitativní rentgenová mikroanalýza

•Elektronová a iontová spektroskopie a mikroanalýza I (Augerova spektroskopie, fotoelektronová spektroskopie, SIMS, LAMMA, jaderné metody)

•Elektronová a iontová spektroskopie a mikroanalýza II

Osnova cvičení:
Cíle studia:
Studijní materiály:

•Macek K. a kol. Experimentální metody v materiálovém inženýrství. Praha: Vydavatelství ČVUT v Praze, 2008. ISBN 978-80-01-03934-2

•Macek K. a kol. Materiálové inženýrství cvičení. Praha: Vydavatelství ČVUT v Praze, 2003. ISBN80-01-02659-0

•Karlík M. Úvod do transmisní elektronové mikroskopie. Praha: Vydavatelství ČVUT v Praze, 2011. ISBN 978-80-01-04729-3

Poznámka:
Rozvrh na zimní semestr 2019/2020:
06:00–08:0008:00–10:0010:00–12:0012:00–14:0014:00–16:0016:00–18:0018:00–20:0020:00–22:0022:00–24:00
Po
Út
místnost KN:A-312
Horník J.
Sobotová J.

10:45–12:15
(přednášková par. 1)
Karlovo nám.
Posluchárna KA312
místnost KN:B-37
Horník J.
12:30–14:00
Karlovo nám.
Posluchárna 12132
místnost KN:B-37
Tolde Z.
14:15–15:45
Karlovo nám.
Posluchárna 12132
místnost KN:B-40
Cvrček L.
16:00–17:30
Karlovo nám.
Cvičebna 12132
místnost KN:B-40
Sobotová J.
12:30–14:00
Karlovo nám.
Cvičebna 12132
místnost KN:B-40
Jeníková Z.
14:15–15:45
Karlovo nám.
Cvičebna 12132
St
Čt

Rozvrh na letní semestr 2019/2020:
Rozvrh není připraven
Předmět je součástí následujících studijních plánů:
Platnost dat k 10. 12. 2019
Aktualizace výše uvedených informací naleznete na adrese http://bilakniha.cvut.cz/cs/predmet5850106.html