Logo ČVUT
ČESKÉ VYSOKÉ UČENÍ TECHNICKÉ V PRAZE
STUDIJNÍ PLÁNY
2018/2019

Diagnostics and Testing

Přihlášení do KOSu pro zápis předmětu Zobrazit rozvrh
Kód Zakončení Kredity Rozsah Jazyk výuky
BE3M38DIT Z,ZK 7 3p+2l
Korekvizita:
Safety in Electrical Engineering for a master´s degree (BEEZM)
Přednášející:
Radislav Šmíd (gar.)
Cvičící:
Radislav Šmíd (gar.), Jakub Svatoš
Předmět zajišťuje:
katedra měření
Anotace:

The course introduces the fundamentals of the fault-detection, fault tolerance, machine condition monitoring, vibrations based diagnostics, non-destructive testing and testing of analog and digital circuits.

Požadavky:
Osnova přednášek:

1.Diagnostics, prognostics, life cycle

2.Fault modelling, signal/model based fault detection

3.Reliability

4.Fault tolerance, static/dynamic/analytical redundancy, FMEA, FMECA

5.Performance evaluation of diagnostic methods (POD)

6.Diagnostic signal sources and analysis, preprocessing

7.Envelope, cepstral, order analysis, analysis of non-stationary signal

8.Diagnostics of mechanical, electrical and electromechanical systems

9.Diagnostics based on impulse and continuous acoustic emission

10.Non-destructive Testing (NDT), Detection and Localization

11.Ultrasonic NDT, Eddy Current NDT, active thermography

12.Testing of analog and digital circuits, production testing

13.In-circuit Testing, Built-in Self Test, Design for Test

14.Test generation, fault masking, test compression, boundary scan

Osnova cvičení:

1.Introduction to Diagnostics, Course Information, Schedule, Lab Practice and Electrical Safety

2.Laboratory Experiment:Fault detection using thermography

3.Laboratory Experiment: Vibrodiagnostics of shaft/gearbox

4.Laboratory Experiment: Eddy Current Non-destructive Testing

5.Laboratory Experiment: Ultrasonic Non-destructive Testing

6.Quiz, Assignment of Individual Project

7.Individual Project

8.Individual Project

9.Individual Project

10.Individual Project

11.Individual Project

12.Individual Project

13.Individual Project

14.Presentation of Individual Project, Assessment

Cíle studia:
Studijní materiály:

[1] R. Isermann: Fault-Diagnosis Systems, Springer Verlag, 2006.

Optional:

[2] Ch. Hellier: Handbook of Nondestructive Evaluation, McGraw-Hill 2012.

[3] M. L. Bushnell, V.D. Agrawal: Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory, and Mixed-Signal VLSI Circuits, Springer, Boston, 2005.

Poznámka:
Rozvrh na zimní semestr 2018/2019:
Rozvrh není připraven
Rozvrh na letní semestr 2018/2019:
06:00–08:0008:00–10:0010:00–12:0012:00–14:0014:00–16:0016:00–18:0018:00–20:0020:00–22:0022:00–24:00
Po
Út
místnost T2:C4-364
Šmíd R.
09:15–10:45
(přednášková par. 1)
Dejvice
Cvicebna
St
Čt
místnost T2:C4-363
Šmíd R.
12:45–14:15
(přednášková par. 1)
Dejvice
Cvicebna
místnost T2:B3-359
Svatoš J.
17:00–18:45
(přednášková par. 1
paralelka 101)

Dejvice
Laboratoř

Předmět je součástí následujících studijních plánů:
Platnost dat k 21. 2. 2019
Aktualizace výše uvedených informací naleznete na adrese http://bilakniha.cvut.cz/cs/predmet4831406.html