Logo ČVUT
ČESKÉ VYSOKÉ UČENÍ TECHNICKÉ V PRAZE
STUDIJNÍ PLÁNY
2019/2020

Teorie metrologických procesů

Přihlášení do KOSu pro zápis předmětu Zobrazit rozvrh
Kód Zakončení Kredity Rozsah
W34A002 ZK 60B
Přednášející:
Libor Beránek, Rudolf Dvořák
Cvičící:
Předmět zajišťuje:
ústav technologie obrábění, projektování a metrologie
Anotace:

doc. Ing. Rudolf Dvořák, CSc.

Metrologie geometrických veličin. Geometrické vlastnosti povrchu: úchylky tvaru a polohy, textura, vliv na funkci. Nové metody měření a přístrojové vybavení. Souřadnicové měřicí stroje, konstrukce, možnosti a postupy měření, software. Metrologické zajištění v ČR. Legální metrologie. Metrologická konfirmace. Primární a sekundární etalonáž. Ověřování a kalibrace. Prokazování shody se specifikacemi. Teorie chyb, přesnost a nejistota měření, postup výpočtu. Laserinterferometry a aplikace pro přesná měření.

Požadavky:

Zvládnutí předepsané náplně předmětu.

Osnova přednášek:

1. Metrologické zabezpečení a úloha v managementu jakosti

2. Geometrické vlastnosti povrchu (přímost, rovinnost, kruhovitost, válcovitost, drsnost), úchylky polohy

3. Dotykové a bezdotykové metody měření

4. Volba metody měření a přístrojového vybavení

5. Etalonáž vybraných veličin

6. Teorie chyb a nejistota měření, nejčastěji používaná rozdělení

7. Vyhodnocení naměřených dat

8. Vybrané kalibrační postupy

9. Systém norem GPS (Geometrical Product Specifications) a začlenění metrologie

10. Souřadnicové měřicí stroje

11. Laserinterferometry

Osnova cvičení:

Měření úchylek tvaru a textury

Měření na souřadnicovém měřicím stroji

Výpočet nejistoty měření

(event. další možné úlohy dle tématu disertační práce)

Cíle studia:
Studijní materiály:

- Zákon č. 505 o metrologii

- Normy mezinárodního systému GPS

- Internetové adresy: www.unmz., cmi, zeiss, imeco-th, mitutoyo, metrology, deom, mesing, topmes, calibr, amest (vše cz), aquastyl(sk) a další.

- A Beginner's Guide to Uncertainty of Measurement; Author: Stephanie Bell

- Fundamental Good Practice in Dimensional Metrology; Authors: Flack, D & Hanniford, J

- Estimating Uncertainties in Testing; Author: Birch, K

- CMM probing; Flack, D

- CMM verification; Author(s):Flack, D

- CMM measurement strategies; Author(s):Flack, D

- Dimensional measurement using vision systems; Rodger, G

- The measurement of rough surface topography using coherence scanning interferometry; Petzing, J*, Coupland, J*, Leach, R K

- Measurement of smooth surface topography using coherence scanning interferometry; Leach, R K, Brown, L*, - - Jiang, X*, Blunt, R*, Conroy, M*, Mauger, D*

(Publikace jsou dostupné po bezplatné registraci na http://www.npl.co.uk/publications/guides/)

Poznámka:
Rozvrh na zimní semestr 2019/2020:
Rozvrh není připraven
Rozvrh na letní semestr 2019/2020:
Rozvrh není připraven
Předmět je součástí následujících studijních plánů:
Platnost dat k 6. 12. 2019
Aktualizace výše uvedených informací naleznete na adrese http://bilakniha.cvut.cz/cs/predmet10894802.html