Mikrovlnné měřicí systémy

Přednášející:

Cvičící:

Předmět zajišťuje:

katedra elektromagnetického pole

Anotace:

Předmět se zabývá problematikou zásad práce v mikrovlnné laboratoři, moderních měřicích metod a přístrojů používaných ve frekvenčním pásmu 100 MHz - 100 GHz. Měření v kmitočtové a časové oblasti. Generátory, frekvenční čítač, spektrální analyzátor. Měření šumu a výkonu. Skalární a vektorové analyzátory. Chyby měření a počítačové korekční metody. Předmět vede k získání profesionálních dovedností v oblasti vysokofrekvenčních a mikrovlnných měření včetně správného vyhodnocení měření, použití korekčních metod, modelů chyb atd.

Požadavky:

Základní znalosti z měření. http://www.elmag.org

Osnova přednášek:

1. Konektory, kabely, zásady práce s mikrovlnným zařízením, počítačem řízené mikrovlnné měřicí systémy

2. Mikrovlnné generátory

3. Mikrovlnný čítač frekvence

4. Mikrovlnný spektrální analyzátor

5. Měření šumu

6. Měření výkonu

7. Měření S-parametrů a zdroje chyb měření, měření odrazu v kmitočtové a časové oblasti

8. Mikrovlnný skalární analyzátor

9. Analyzátory obvodů s frekvenční konverzí

10. Automatizovaný měřicí systém s HP 8410

11. Vektorové měřicí systémy se šestibrany

12. Zdroje chyb při širokopásmovém mikrovlnné měření

13. Základní korekční metody

14. Korekční metody pro chybový model s přeslechy

Osnova cvičení:

1. Úvod do práce na mikrovlnných zařízeních, konektory, kabely

2. Mikrovlnný digitální spektrální analyzátor, spektrální analyzátor EMC, praktická měření

3. Měření směšovačů, intermodulačních parametrů zesilovačů

4. Skalární analyzátor obvodů HP 8757E, měření odrazu v kmitočtové a časové oblasti

5. Měření kompresních bodů zesilovačů

6. Měření přepínačů, analogových a digitálních atenuátorů

7. Mikrovlnný měřič výkonu. Měření výk. stability generátorů

8. Mikrovlnné generátory HP 8620C, HP 8350B

9. Mikrovlnný frekvenční čítač TR 5212

10. Vektorový analyzátor obvodů HP 8410. Měření Q, porovnání měření v kmitočtové a čas. oblasti

11. Řídicí systém „HP 8410-PC Controlling system“

12. Měření korigovaného koeficientu odrazu v reálném čase

13. Měření rozptylových parametrů mikrovlnných tranzistorů

14. Kontrola zpracování jednotlivých úloh, zápočet

Cíle studia:

Studijní materiály:

[1] Bailey A. E.: Microwave Measurement. Peter Peregrinus, London 1985

[2] Bryant, G.H.: Principles of Microwave Measurements. IEE Electrical Meas. 5, Peter Peregrinus Ltd., London 1997

Poznámka:

Rozsah výuky v kombinované formě studia: 14+4

Typ cvičení: l

Předmět je nabízen také v anglické verzi.

, viz též http://www.elmag.org/doku.php/k317:mms

Další informace:

Pro tento předmět se rozvrh nepřipravuje

Předmět je součástí následujících studijních plánů:

• Telekomunikace a radiotechnika - vysokofrekvenční a mikrovlná technika- strukturované studium (povinně volitelný předmět)
• Telekomunikace a radiotechnika - optoelektrické systémy- strukturované studium (povinně volitelný předmět)
• Telekomunikace a radiotechnika - rádiové komunikační, navigační a radarové systémy- strukturované s. (povinně volitelný předmět)
• Telekomunikace a radiotechnika - multimediální, zvuková a televizní technika- strukturované studium (povinně volitelný předmět)
• Telekomunikace a radiotechnika - telekomunikace- strukturované studium (povinně volitelný předmět)