Logo ČVUT
Loading...
ČESKÉ VYSOKÉ UČENÍ TECHNICKÉ V PRAZE
STUDIJNÍ PLÁNY
2011/2012

Experimentální metody studia materiálu

Přihlášení do KOSu pro zápis předmětu Zobrazit rozvrh
Kód Zakončení Kredity Rozsah Jazyk výuky
2321048 Z,ZK 6 3+2 česky
Přednášející:
Cvičící:
Předmět zajišťuje:
ústav materiálového inženýrství
Anotace:

Metody difrakční: rentgenová a elektronová difraktografie (pro fázovou analýzu, pro určení zbytkových pnutí, textur a pro analýzu mřížkových vad). Metody zobrazovací: světelná a elek-tronová mikroskopie (příprava vzorků a charakteristiky zobrazení, teorie kontrastu). Pokročilé fyzikální metody zobrazování a chemické mikroanalýzy: řádkovací elektronová mikroskopie (emisní, transmisní a vodivostní způsob). Mikroanalýza elektronovou sondou: vlnově a energiově disperzní rentgenová spektroskopie, kvantitativní mikroanalýza, zpracování signálu.

Požadavky:

Předmět pro oborové studium Materiálové inženýrství. Cvičení, jež jsou součástí tohoto kurzu, jsou povinná. Neúčast na cvičení musí být řádně omluvena.

Osnova přednášek:

1.Světelná mikroskopie (příprava vzorků a charakteristiky zobrazení, teorie kontrastu)

2.Konfokální mikroskopie, metody světelné spektroskopie pro analýzu (GDOES,atd.)

3.Elektrony, interakce se vzorkem I, transmisní elektronová mikroskopie (princip, příprava vzorků)

4.Transmisní elektronová mikroskopie (charakteristiky zobrazení, teorie kontrastu)

5.Speciální metody TEM (HV TEM, HR TEM)

6.Skenovací elektronová mikroskopie (princip, příprava vzorků)

7.Skenovací elektronová mikroskopie (charakteristiky zobrazení, teorie kontrastu)

8.Elektronová difraktografie (pro fázovou analýzu, pro určení zbytkových pnutí, textur a pro analýzu mřížkových vad)

9.Interakce elektronů se vzorkem II, rentgenová spektroskopie a mikroanalýza chemic-kého složení, EDS, WDS, XRS

10.Metody SPM

11.Kvantitativní rentgenová mikroanalýza

12.Elektronová a iontová spektroskopie a mikroanalýza (Augerova spektroskopie, fotoe-lektronová spektroskopie, SIMS, LAMMA, jaderné metody) I

13.Elektronová a iontová spektroskopie a mikroanalýza

Osnova cvičení:

Cvičení zaměřená na přednášenou látku jsou doplněna exkursí na špičková pracoviště.

Cíle studia:

Seznámit studenty s experimentálními metodami, které se v současnosti používají v diagnostice strojírenských materiálů.

Studijní materiály:

[1]MACEK, K. a kol. Experimentální metody v materiálovém inženýrství. Praha: Vydava-telství ČVUT v Praze, 2008

[2]MACEK, K. a kol. Materiálové inženýrství cvičení. Praha: Vydavatelství ČVUT v Praze, 2003

[3]SMOLA, B. Transmisní elektronová mikroskopie ve fyzice pevných látek. Praha: Státní pedagogické nakladatelství Praha, 1983

Poznámka:
Rozvrh na zimní semestr 2011/2012:
Rozvrh není připraven
Rozvrh na letní semestr 2011/2012:
Rozvrh není připraven
Předmět je součástí následujících studijních plánů:
Platnost dat k 9. 7. 2012
Aktualizace výše uvedených informací naleznete na adrese http://bilakniha.cvut.cz/cs/predmet10618402.html