Experimentální metody studia materiálů
Kód | Zakončení | Kredity | Rozsah | Jazyk výuky |
---|---|---|---|---|
2321505 | Z,ZK | 5 | 2P+2L | česky |
- Garant předmětu:
- Jakub Horník
- Přednášející:
- Ladislav Cvrček, Elena Čižmárová, Jakub Horník, Jakub Horváth, Zdeňka Jeníková, Jan Krčil, Stanislav Krum, Vladimír Mára, Lucie Pilsová, Jana Sobotová, Taťana Vacková
- Cvičící:
- Ladislav Cvrček, Elena Čižmárová, Jakub Horník, Jakub Horváth, Zdeňka Jeníková, Jan Krčil, Stanislav Krum, Vladimír Mára, Lucie Pilsová, Jana Sobotová, Taťana Vacková
- Předmět zajišťuje:
- ústav materiálového inženýrství
- Anotace:
-
Metody analýzy materiálů se zaměřením na analýzy strukturní, fázové, textur a pro analýzu mřížkových vad a stanovení zbytkových pnutí (rentgenová a elektronová difraktografie). Metody zobrazovací: světelná a elektronová mikroskopie (příprava vzorků a charakteristiky zobrazení, teorie kontrastu). Pokročilé metody zobrazování a chemické mikroanalýzy: řádkovací elektronová mikroskopie.
- Požadavky:
-
Ke získání zápočtu je třeba účast na všech cvičeních, vypracování a odevzdání zpráv nebo protokolů dle zadání vyučujícího.
Případné omluvy a náhradní zadání je třeba řešit přímo s vyučujícím dané úlohy.
Pravidelné sledování informací v MOODLu.
- Osnova přednášek:
-
•Světelná mikroskopie (příprava vzorků a charakteristiky zobrazení, teorie kontrastu)
•Konfokální mikroskopie, metody světelné spektroskopie pro analýzu (GDOES, atd.)
•Elektrony, interakce se vzorkem, transmisní elektronová mikroskopie (princip, příprava vzorků)
•Transmisní elektronová mikroskopie (charakteristiky zobrazení, teorie kontrastu)
•Speciální metody TEM (HV TEM, HR TEM)
•Skenovací elektronová mikroskopie (princip, příprava vzorků)
•Skenovací elektronová mikroskopie (charakteristiky zobrazení, teorie kontrastu)
•Elektronová difraktografie (pro fázovou analýzu, pro určení zbytkových pnutí, textur a pro analýzu mřížkových vad)
•Rentgenová spektroskopie a mikroanalýza chemického složení, EDS, WDS, XRS
•Metody SPM
•Kvantitativní rentgenová mikroanalýza
•Elektronová a iontová spektroskopie a mikroanalýza I (Augerova spektroskopie, fotoelektronová spektroskopie, SIMS, LAMMA, jaderné metody)
•Elektronová a iontová spektroskopie a mikroanalýza II
- Osnova cvičení:
- Cíle studia:
- Studijní materiály:
-
•Macek K. a kol. Experimentální metody v materiálovém inženýrství. Praha: Vydavatelství ČVUT v Praze, 2008. ISBN 978-80-01-03934-2
•Macek K. a kol. Materiálové inženýrství cvičení. Praha: Vydavatelství ČVUT v Praze, 2003. ISBN80-01-02659-0
•Karlík M. Úvod do transmisní elektronové mikroskopie. Praha: Vydavatelství ČVUT v Praze, 2011. ISBN 978-80-01-04729-3
- Poznámka:
- Rozvrh na zimní semestr 2024/2025:
-
06:00–08:0008:00–10:0010:00–12:0012:00–14:0014:00–16:0016:00–18:0018:00–20:0020:00–22:0022:00–24:00
Po Út St Čt Pá - Rozvrh na letní semestr 2024/2025:
- Rozvrh není připraven
- Předmět je součástí následujících studijních plánů: