Charakterizační metody v nanotechnologiích

Přednášející:

Cvičící:

Předmět zajišťuje:

katedra přírodovědných oborů

Anotace:

Student by uměl umět stanovit nanokrystalinitu, velikost zrn, rozměr a tvar nanočástic a nanovláken a tvar a vlastnosti rozhraní a povrchů, složení, vazby a strukturu nanokompozitů a vyznal se v metodách používaných pro stanovení biokompatibility materiálů.

Pozornost bude zaměřena zejména na základní principy mikroskopických metod (optický a konfokální mikroskop, mikroskop atomárních sil, skanovací tunelový mikroskop, optický mikroskop blízkého pole, apod., ), metod na stanovení struktury (XRD, RHEED,), na stanovení vazeb (Ramanův rozptyl, Fourierovský infračervený spektrofotometr, XPS, metody pro stanovení podílu sp2/sp3 u uhlíkových vazeb, ..) a na stanovení složení materiálů (Rutherfordův zpětný rozptyl, PIXE, SIMS, GDOES, EDS, WDX, ), na stanovení optických vlastností (spektroskopická elipsometrie, transmisivita,), mechanických a povrchových vlastností (mikrotvrdost, adheze, smáčivost,z- potenciál, ), a elektrických, biokompatibilních a magnetických vlastností. V rámci laboratorních praktik bude student pracovat mj. s optickým mikroskopem, mikroskopem atomárních sil, měřičem drsnosti povrchů, s měřičem kontaktního úhlu a s Fourierovským infračerveným mikroskopem.

Požadavky:

Osnova přednášek:

Osnova cvičení:

Cíle studia:

Studijní materiály:

Chrisey, D.B., Hubler, D.K.: Pulsed Laser Deposition of Thin Films. John Wiley and Sons, Inc., 1994

Prasad, P.N.: Nanophotonics. Wiley Interscience 2004

Gricová, M.: Metody analýzy materiálů, Vydavatelství ČVUT, Praha 1992

Eckertová, L.: Elektronika povrchů, SPN Praha, skripta MFF UK, Praha 1983

Ekcertová, L., Frank, L.: Metody analýzy povrchů, elektronová mikroskopie, Academia, Praha 1996

Miller, J.C., Haglund, R.: Laser ablation and desorption, Vol. 30, Experimental Methods in the Physical Sciences, Academic press, 1998

Němcová, I., Čermáková, L., Rychlovský, P.: Spektrometrické analytické metody I.,Univerzita Karlova, Vydavatelství Karolinum, Praha 1997

Trchová, M.: Metodiky FTIR spektroskopie, Studijní text k Speciální praktika III., KFPyMFF UK Praha, 1995

Cahn Frs, R.V.: Concise Encyclopedia of Materials Characterization, Elsevier, 2005

Brundle, C.R., Evans, C.A., Wilson, S., Fitzpatrick, L.E.: Encyclopedia of materials characterization, Butterworth- Heinemann , 1992

Cullity, B.D.: Elements of X- ray Diffraction, Adison- Wesley, Menlo Park, CA, 1978

Klug, H.P., Alexander, L.E.: X - ray Diffraction Procedures, Wiley, New York 1974

Prasad, P.N.: Nanophotonics. Wiley Interscience 2004

Kubátová, J. a kol.: Sborník přednášek NANOTECHNOLOGIE, ESF, program CZ 04.01.03, 2008

Poznámka:

Další informace:

Pro tento předmět se rozvrh nepřipravuje

Předmět je součástí následujících studijních plánů:

• Navazující magisterský studijní obor Přístroje a metody pro biomedicínu (povinně volitelný předmět)