Diagnostika a rekonfigurace programovatelných obvodů

Přednášející:

Ondřej Novák (gar.)

Cvičící:

Ondřej Novák (gar.)

Předmět zajišťuje:

katedra číslicového návrhu

Anotace:

Předmět je určen pro doktorandy, kteří přicházejí do styku s návrhem číslicových obvodů, zvláště obvodů SOC a NOC realizovanými na FPGA a obvodech ASIC. V předmětu získají informace o moderních metodách využívaných pro zvýšení spolehlivosti a provozuschopnosti těchto obvodů.

Požadavky:

Předpokladem studia je znalost problematiky testování číslicových systémů.

Osnova přednášek:

1.Defects, faults and failures and their models .

2.Optimized ATPG systems and test pattern compression and decompression systems.

3.BIST, test generators, LFSR, CA, built-in analyzers MISR.

4.Mixed-mode testing systems.

5.Realization of systems with improved reliability and security.

6.TSC circuits.

7.Self-repair systems.

8.Reliability evaluations and models, block and Markov models.

Osnova cvičení:

Studenti v prúběhu semestru pracují na individuálním projektu, umožňujícím zlepšení vlastností jejich návrhů.

Cíle studia:

Studenti získají iznalosti o moderních metodách využívaných pro zvýšení spolehlivosti a provozuschopnosti obvodů FPGA a ASIC. Cílem studia je zpracovat a prezentovat vybraný projekt vztahující se k tématu předmětu a prezentovat ho včetně zprávy průběhu řešení pojektu. Po prezentaci následuje diskuse nad možnostmi dalšího vylepšení navrženého řešení.

Studijní materiály:

Novák, O, Gramatová, E., Ubar, R.: Handbook of Electronic Testing. Vydavatelství ČVUT, srpen 2005, ISBN 80-01-03318-X, 405 stran

Poznámka:

Rozvrh na zimní semestr 2011/2012:

Rozvrh není připraven

Rozvrh na letní semestr 2011/2012:

Rozvrh není připraven

Předmět je součástí následujících studijních plánů:

• Informatika (VO)