Diagnostika číslicových zařízení

Přednášející:

Cvičící:

Předmět zajišťuje:

katedra měření

Anotace:

Předmět je zaměřen na metody testování a měření v číslicových zařízeních. Popisuje funkce a použití přístrojů používaných v číslicové technice. V teoretičtěji orientované části seznamuje se základy šíření číslicových signálů, reflektometrií a metastabilitou. Dále se zabývá měřením na standardních počítačových sběrnicích a sériových komunikačních linkách. V závěru je představena technologie JTAG, určená pro testování číslicových systémů metodou „boundary scan“.

Požadavky:

Osnova přednášek:

Přednášky budou probíhat prvních 7 týdnů po 2 hodinách.

1. Číslicová měření - účel, metody a prostředky.

2. Výrobní technologie logických obvodů a její vliv při měření.

3. Logické sondy, pulsery, generátory číslicových dat.

4. Analogové osciloskopy - speciální funkce, parametry a příslušenství.

5. Číslicové osciloskopy - DSO a DPO, speciální spouštění, parametry a příslušenství.

6. Metodika a příklady využití osciloskopů v číslicové technice.

7. Praktický pohled na šíření digitálních signálů, reflektometrie.

8. Logické analyzátory - speciální funkce, módy spouštění, parametry a příslušenství.

9. Metodika a příklady využití logických analyzátorů v číslicové technice.

10. Metastabilita a synchronizace.

11. Měření na standardních sběrnicích - ISA, VME, PCI ...

12. Speciální analyzátory, diagnostika sběrnice SCSI.

13. Diagnostické rozhraní JTAG, metoda boundary scan.

14. Měření a diagnostika sériových komunikačních kanálů.

Osnova cvičení:

1. Úvod - rozdělení, bezpečnost práce.

2. Měření statických parametrů integrovaných obvodů různých technologií.

3. Měření dynamických parametrů integrovaných obvodů různých technologií.

4. Digitální osciloskop - měření pro pokročilé.

5. Logický analyzátor - měření pro pokročilé.

6. Diagnostika rozhraní Centronics.

7. Sledování sběrnice PCI logickým analyzátorem.

8. Reflektometrie - diagnostika kabeláže.

9. Metastabilita klopných obvodů.

10. Měření na sériových sběrnicích.

11. Diagnostika SCSI rozhraní, použití specializovaného analyzátoru SCSI.

12. Analýza činnosti mikroprocesoru logickým analyzátorem.

13. Jednoduchá diagnostika systému s rozhraním JTAG.

14. Závěrečné cvičení - náhrady a zápočty.

Cíle studia:

Studijní materiály:

1. Kreidl, M. a kol.: Diagnostické systémy. Vydavatelství ČVUT, Praha 2001

2. www.tektronix.com

3. www.agilent.com

4. www.ti.com

Poznámka:

http://measure.feld.cvut.cz/cs/vyuka/predmety/dcz

Další informace:

Pro tento předmět se rozvrh nepřipravuje

Předmět je součástí následujících studijních plánů:

• Společný plán- strukturované studium (volitelný předmět odborný)
• Výpočetní technika- strukturované studium (volitelný předmět odborný)
• Elektronika a sdělovací technika- strukturované studium (volitelný předmět odborný)
• Kybernetika a měření- strukturované studium (povinně volitelný předmět, volitelný předmět odborný)
• Silnoproudá elektrotechnika- strukturované studium (volitelný předmět odborný)