Radioelektronická měření

Přednášející:

Cvičící:

Předmět zajišťuje:

katedra radioelektroniky

Anotace:

Cílem přednášek je vysvětlit základní měřicí metody, jichž se používá při laborování, testování a kalibraci ve vysokofrekvenční analogové i číslicové technice. Kromě měřicích metod je též věnována pozornost moderním vf přístrojům a systémům pro automatizovaná měření. Cvičení je zaměřeno na praktickou vf laboratorní techniku.

Požadavky:

Osnova přednášek:

1. Laboratorní technika, rušení, stínění, zemnění, nežádoucí vazby

2. Rezonanční měřicí metody, měření Q, měření param. cívek a vf transformátorů

3. Měření elektrických parametrů prvků v obvodech se soustředěnými parametry

4. Měření v obvodech s rozlož. parametry, časová reflektometrie

5. Měření v obvodech s optickými vlákny, útlum, rozptyl, reflektometrie

6. Měření vf parametrů náhradního obvodu aktivních součástí

7. Měření vf napětí, proudu, detektory, selektivní a vektorové metody

8. Měření vf výkonu, průchozí výkon, chyby nepřizpůsobení

9. Měření intenzity elektromagnetického pole, sondy, antény, prostory

10. Měření parametrů signálů, modulace, zkreslení, spekter, šumu

11. Měření v obvodech digitální komunikace, jitter, chybovost, vektorové analyzátory

12. Měření kmitočtu, čas. intervalu, distribuce normál. kmitočtu -TV,GPS

13. Technika kalibrace, vysokofrekvenční normály, mezinárodní návaznost

14. Automatizované systémy měření, programové prostředky, sběrnice

Osnova cvičení:

1. Zásady laboratorní práce, deník, zpracování výsledků, bezpečnost

2. Měření parametrů vf obvodů rezonanční metodou (Q, L, R, C, M, tgd)

3. Experiment na měrném vedení, činitel odrazu, PSV, činitel zkrácení

4. Měření parametrů náhradního obvodu krystalového rezonátoru

5. Vektorová měření v obvodech s rozloženými parametry, přizpůsobení

6. Měření rozptylových parametrů vf tranzistorů (s11, s12, s21, s22)

7. Experiment s RC oscilátorem (zkreslení, stabilita amplitudy, frekvence)

8. Experiment s antialiasingovým filtrem, návrh, realizace, měření

9. Přesné měř. frekv. (krátkod. a dlouhodobá stabil., doba náběhu, teplotní stab.)

10. Měření parametrů signálů osciloskopickými metodami

11. Měření parametrů modulovaných signálů spektrálním analyzátorem

12. Měření parametrů náhradního obv. pasivních vf součástek, frekvenční závislosti

13. Měření mikrovlnných součástí v pásmu 10 GHz, izolátor, cirkulátor, směr. vazba

14. Závěrečné hodnocení, kontrolní měření, zápočty

Cíle studia:

Studijní materiály:

[1] Moravec: Radioelektronická měření. Skripta ČVUT, Praha 1992 (3.vyd.)

[2] Witte, R.A.: Electronic Test Instruments - Theory and Applications. Englewood Cliffs, NJ07632, Prentice Hall PTR, 1991

Poznámka:

Předmět má stejnou náplň jako předmět 37RAM.

Další informace:

Pro tento předmět se rozvrh nepřipravuje

Předmět je součástí následujících studijních plánů:

• Elektronika a sdělovací technika - bakalářský blok (povinně volitelný předmět)