Logo ČVUT
Loading...
ČESKÉ VYSOKÉ UČENÍ TECHNICKÉ V PRAZE
STUDIJNÍ PLÁNY
2011/2012

Diagnostika a spolehlivost

Předmět není vypsán Nerozvrhuje se
Kód Zakončení Kredity Rozsah
36DSP Z,ZK 4 2+2s
Předmět je náhradou za:
Diagnostika a spolehlivost (X36DSP)
Přednášející:
Cvičící:
Předmět zajišťuje:
katedra počítačů
Anotace:

Modely poruch v číslicových systémech, generování testů pro kombinační a sekvenční obvody, minimalizace testů, simulace poruch, příznaková analýza, vestavěné diagnostické prostředky, testování LSI a VLSI, technické vybavení pro diagnostiku. Úvod do teorie spolehlivosti, modely, ukazatele, jejich hodnocení, zálohování, systémy odolné proti poruchám.

Požadavky:

Kontrolní test, zápisy z řešení laboratorních úloh.

http://service.felk.cvut.cz/courses/36DSP/

Osnova přednášek:

1. Úvod do diagnostiky, základní pojmy, modely poruch

2. Generování testů pro kombinační obvody

3. Generování testů pro sekvenční obvody

4. Minimalizace testů. Náhodné a pseudonáhodné testy

5. Systémy automatizovaného generování testů. Simulace poruch

6. Komprese diagnostickych dat, příznaková analýza. Slovníky poruch

7. Návrh pro snadnou diagnostiku, vestavěné diagnostické prostředky

8. Zabezpečení proti poruchám, samočinně kontrolované obvody. Hlídací časovač

9. Testování obvodů LSI a VLSI: mikroprocesorů, pamětí a PLA

10. Technické vybavení pro diagnostiku. Metoda Boundary scan

11. Úvod do teorie spolehlivosti. Spolehlivostní modely

12. Výpočty spolehlivostních ukazatelů

13. Zálohování systémů, statická a dynamická záloha

14. Systémy odolné proti poruchám, jejich návrh a použití

Osnova cvičení:

1. Poruchy v číslicových obvodech, modely poruch

2. Intuitivní zcitlivění cesty

3. Intuitivní zcitlivění cesty v obvodech s redundancí, D- algoritmus

4. Boolovská diference, tabulky úplných testů

5. Generování testů pro sekvenční obvody

6. Minimalizace testů

7. Komprese diagnostických dat, slovníky poruch

8. Obvody bezpečné proti poruchám. Příprava na laboratorní cvičení

9. Lab. cvičení (prováděná cyklicky): Detekce a lokalizace poruch v kombinačních obvodech

10. Boundary scan

11. Diagnostické prostředky pro autonomní testování

12. Příznaková analýza

13. Výpočty spolehlivostních parametrů, zálohování systémů

14. Markovské modely obnovovaných a neobnovovaných systémů

Cíle studia:
Studijní materiály:

[1]Novák, O, Gramatová, E., Ubar, R.: Handbook of Electronic Testing. Vydavatelství ČVUT, srpen 2005, ISBN 80-01-03318-X, 405 stran

[2] Hlavička, J.: Diagnostika a spolehlivost - cvičení. Skripta ČVUT, Praha 1989

Poznámka:

Rozsah výuky v kombinované formě studia: 14+4

Typ cvičení: s

Další informace:
Pro tento předmět se rozvrh nepřipravuje
Předmět je součástí následujících studijních plánů:
Platnost dat k 9. 7. 2012
Aktualizace výše uvedených informací naleznete na adrese http://bilakniha.cvut.cz/cs/predmet11017504.html