Základy VF techniky

Přednášející:

Cvičící:

Předmět zajišťuje:

katedra elektromagnetického pole

Anotace:

Předmět je věnován základům vf a mikrovlnné techniky se zaměřením na problematiku měření. Uvádí do základních technických parametrů charakterizujících vf a mikrovlnné obvody. Seznamuje s jejich měřením a s principy používaných měřicích přístrojů. Ve cvičeních je využívána počítačová simulace vycházející z naměřených dat a reálné měření pomocí profesionálních měřicích přístrojů. Je navržen pro studenty, kteří se s problematikou vf techniky setkávají poprvé.

Požadavky:

Základní znalosti z teorie elektromagnetického pole. http://www.elmag.org

Osnova přednášek:

1. Prvky se soustředěnými a rozloženými parametry

2. Pojem impedance, PSV, koef. odrazu, transformace po vedení

3. Smithův impedanční diagram, impedanční přizpůsobení

4. Rozptylové parametry zemněných a diferenčních obvodů

5. Základní typy vf. a mikrovlnných vedení.

6. Základní komponenty vf. měřicí techniky

7. Skalární měření přenosů a odrazů, chyby měření

8. Vektorové měření odrazů a přenosů

9. Korekční metody, přesné vektorové měření

10. Měření diferenčních obvodů

11. Měření frekvenčního spektra

12. Měření lineárních a nelineárních obvodů

13. Měření výkonu

14. Měření kmitočtu

Osnova cvičení:

1. Seznámení s programem MIDE

2. Simulace vlivu diskontinuit na parametry reálných obvodů

3. Simulace impedančního přizpůsobování

4. Simulace vlastností diferenčních obvodů

5. Úvod do práce na mikrovlnných zařízeních

6. Základní vf. měřicí přístroje, generátor, detektor, měřič výkonu, čítač frekvence

7. Kalibrace detektoru

8. Korigované měření vlnovodných dílů

9. Skalární analyzátor, měření odrazů a přenosů koaxiálních prvků

10. Vektorové měření pomocí 6-portu

11. Měření pasivních prvků R, L, C a určování náhradních obvodů v pásmu 20-2000 MHz

12. Analogový spektrální analyzátor 10 MHz -18 Ghz

13. Měření frekvenčního spektra generátorů, násobičů

14. Měření spektra obvodů v režimu velkého signálu

Cíle studia:

Studijní materiály:

[1] Škvor Z., CAD pro vf. techniku, skriptum ČVUT FEL, květen 2001

[2] Bryant G. H., Principles of Microwave Measurements, IEE Electrical Measurements Series 5, Peter Peregrinus Ltd. London 1997

[3] Bailey A. E., Microwave Measurements, IEE Electrical Measurement Series 3, Peter Peregrinus Ltd., London 1985

Poznámka:

Další informace:

Pro tento předmět se rozvrh nepřipravuje

Předmět je součástí následujících studijních plánů:

• Kybernetika a měření - řídicí technika- strukturované studium (povinně volitelný předmět)
• Kybernetika a měření - umělá inteligence- strukturované studium (povinně volitelný předmět)
• Kybernetika a měření - měřicí a přístrojové systémy- strukturované studium (povinně volitelný předmět)
• Kybernetika a měření - letecké informační a řídicí systémy- strukturované studium (povinně volitelný předmět)