Základní měření ve sdělovací technice

Přednášející:

Cvičící:

Předmět zajišťuje:

katedra radioelektroniky

Anotace:

Charakteristiky vysokofrekvenčních měřicích systémů, komponenty měřicích systémů. Rušivé signály v měřicích systémech, základní měření EMC. Metody měření vysokofrekvenčního napětí, výkonu a dalších obvodových veličin. Měření parametrů pasivních a aktivních prvků. Zdroje měřicích a referenčních signálů. Měření kmitočtu a časových intervalů. Analyzátory signálů v časové a frekvenční doméně. Obvodové analyzátory skalární a vektorové. Standardizace a automatizace měřících systémů.

Požadavky:

Osnova přednášek:

1. Charakteristiky vf měř. systémů, souměrné, nesouměrné, v-v impedance, přizpůsobení

2. Rušivé signály v měř. systémech, nežádoucí vazby, stínění, zemnění, propojování

3. Komponenty vf měř. systémů, náhradní obvody, rezonátory, proměnné prvky, vedení

4. Měření vf parametrů aktivních prvků, y,s,h-parametry, mezní frekvence, výkonový zisk

5. Měření vf napětí, převodníky, širokopásmové a selektivní voltmetry, Q-špič., RMS, stř.

6. Měření vf výkonu, průchozí výkon, metody kalorimetrické, bolometrické, senzory

7. Referenční zdroje měřicích signálů, cesiový, vodíkový, rubidiový, krystalový standard

8. Měření kmitočtu a časových intervalů, rozšíření frekv. pásma, chyby čítačů, kalibrace

9. Analyzátory signálů v časové doméně, analogové a digitální osciloskopy

10. Spektrální analyzátory, rozmítané, FFT, měření modulačních charakteristik a spekter

11. Obvodové analyzátory, skalární, vektorové, kalibrace zkratem, čtyř-svorkové propojení

12. Zdroje měřicích signálů, harmonické, funkční a šumové generátory, optické zdroje

13. Základní měření EMC, testovací signály, umělé sítě, měřicí prostory

14. Standardizace a automatizace měřicích systémů, rozhraní, programové vybavení

Osnova cvičení:

1. Rezonanční měřicí metody

2. Koaxiální komparátory a měrná vedení

3. Měření náhradního obvodu krystalového rezonátoru

4. Měření impedančním analyzátorem

5. Měření harmonického zkreslení

6. Měření modulačních charakteristik AM, FM

7. Test, hodnocení, náhradní a kontrolní měření

8. Měření parametrů vf tranzistorů

9. Měření spektrálních charakteristik

10. Měřicí detektory, obálkový, špičkový, RMS, fázový

11. Měření kmitočtu, konverze, stabilita

12. Analýza signálů v časové doméně

13. Měření charakteristik EMC, vyzařování do sítě, rušení

14. Kontrolní měření, zápočty

Cíle studia:

Studijní materiály:

1. Horevaj, M., Matějka, Š. Měření ve sdělovací technice-laboratorní cvičení. Praha: ČVUT. 2001

2. Clide, F., Coombs, Jr. Electronic Instrument Handbook. New York: McGraw - Hill, Inc. 1995

Poznámka:

Další informace:

Pro tento předmět se rozvrh nepřipravuje

Předmět je součástí následujících studijních plánů:

• Elektronika a sdělovací technika- strukturované studium (povinný předmět)