Logo ČVUT
Loading...
ČESKÉ VYSOKÉ UČENÍ TECHNICKÉ V PRAZE
STUDIJNÍ PLÁNY
2011/2012

Vybrané partie z optiky

Přihlášení do KOSu pro zápis předmětu Zobrazit rozvrh
Kód Zakončení Kredity Rozsah
XP02VPO Z,ZK 4 2+2s
Přednášející:
Pavel Kubeš (gar.), Josef Kravárik
Cvičící:
Pavel Kubeš (gar.), Josef Kravárik
Předmět zajišťuje:
katedra fyziky
Anotace:

Základní vlastnosti světla, vlnová rovnice, rovinná vlna, polarizace, odraz a lom , přirozená a umělá optická anizotropie, optické modulátory,koherence, interference, tenké vrstvy, interferometry, ohyb světla, optická mřížka, základy holografie, vizualizační metody nehomogenit, normální a anomální disperze, optické zobrazování, optické přístroje, fotometrické veličiny, kolorimetrie, záření atomů, spektra, stimulovaná emise, lasery

Požadavky:

Ke zkoušce je požadován zápočet.

Osnova přednášek:

1. Základní vlastnosti světla: vlnová rovnice, rovinná vlna, polarizace,energie

2. Odraz a lom světla na rozhraní dielektrik, odraz světla od povrchu kovů

3. Prvky optiky krystalů: charakteristiky krystalů, polarizátory, fázová destička

4. Umělá anizotropie: způsoby vyvolání anizotropie, elektrooptické modulátory

5. Interference světla: koherence, koherentní zdroje, interference v tenké vrstvě

6. Aplikace interference: protiodrazové a odrazové vrstvy, interferometry

7. Ohybové jevy : kruhový otvor, terčík, optická mřížka, metoda fázového kontrastu

8. Základy holografie: záznam hologramu, rekonstrukce obrazu, aplikace

9. Vizualizace nehomogenit: šlírová a stínová metoda, schlierové soustavy, aplikace

10. Disperze světla: disperzní rovnice, normální a anomální disperze

11. Optické zobrazování: zobrazovací soustavy, zobrazovací vady, optické přístroje

12. Fotometrie: oko a vidění, fotometrické veličiny, základy kolorimetrie

13. Záření atomů a molekul, spektra různých zdrojů světla, spektrální analýza

14. Stimulovaná emise, lasery aplikace

Osnova cvičení:

1. Polarizační jevy při odrazu na rozhraní dielektrik, Brewsterův úhel

2. Polarizačních jev při odrazu na tenkých vrstvách

3. Přenosová funkce elektrooptického modulátoru

4. Kontrastní poměr optické soustavy s Pockelsovou celou

5. Měření na šlírové soustavě

6. Michelsonův interferometr,koherenční délka

7. Stanovení indexu lomu z posunutí interferenčních proužků

8. Ohybové jevy na kruhovém otvoru, štěrbině a vláknu

9. Ohybové jevy na štěrbině a optické mřížce

10. Zvětšení optických přístrojů

11. Měření spekter

12. Spektrální analýza

13. Demonstrace laserového systému

14. Demonstrace zdrojů XUV záření

Cíle studia:
Studijní materiály:

[1] Born, M., Wolf, E.: Osnovy optiki (rus. překlad). Nauka, Moskva 1973

[2] Fuka, J., Havelka, B.: I. Optika. St. pedag.nakl., Praha 1961

[3] Vrbová, M. a kol.: Lasery a moderní optika. Prometheus, Praha 1994

Poznámka:
Rozvrh na zimní semestr 2011/2012:
06:00–08:0008:00–10:0010:00–12:0012:00–14:0014:00–16:0016:00–18:0018:00–20:0020:00–22:0022:00–24:00
Po
Út
místnost T2:B2-39a
Kravárik J.
12:45–14:15
(přednášková par. 1)
Dejvice
Laboratoř
místnost T2:B2-39a
Kravárik J.
14:30–16:00
(přednášková par. 1
paralelka 101)

Dejvice
Laboratoř
St
Čt

Rozvrh na letní semestr 2011/2012:
06:00–08:0008:00–10:0010:00–12:0012:00–14:0014:00–16:0016:00–18:0018:00–20:0020:00–22:0022:00–24:00
Po
Út
místnost T2:B2-39b

07:30–09:00
(přednášková par. 1)
Dejvice
Cvičebna
místnost T2:B2-39a

09:15–10:45
(přednášková par. 1
paralelka 1)

Dejvice
Laboratoř
St
Čt

Předmět je součástí následujících studijních plánů:
Platnost dat k 9. 7. 2012
Aktualizace výše uvedených informací naleznete na adrese http://bilakniha.cvut.cz/cs/predmet11509004.html