Logo ČVUT
Loading...
ČESKÉ VYSOKÉ UČENÍ TECHNICKÉ V PRAZE
STUDIJNÍ PLÁNY
2011/2012

Pouzdření elektronických součástek

Předmět není vypsán Nerozvrhuje se
Kód Zakončení Kredity Rozsah Jazyk výuky
X13PAC Z,ZK 4 2+2s česky
Přednášející:
Cvičící:
Předmět zajišťuje:
katedra elektrotechnologie
Anotace:

Důvody a význam propojování elektronických součástek. Pouzdra a propojení - účel a vlastnosti pouzder. Materiály a technologie používané pro propojování a pouzdření. Elektrický a tepelný návrh pouzder. Připojování na úrovni čipů. Multičipové moduly. Podložky, technologie a vlastnosti multičipových modulů základních druhů modulů: MCM-L, MCM-D, MCM-C. Nová pouzdra vedoucí na zvýšení součinitele prostorového využití - pouzdra 3D, jejich varianty, používané materiály a technologie.

Požadavky:

Student musí získat nejprve zápočet, aby byl připuštěn ke zkoušce

Osnova přednášek:

1.Pouzdření a propojování elektronických obvodů a systémů

2.Hierarchie pouzder a propojení.

3.Úrovně pouzdření. Základní funkce pouzder

4.Materiály a technologické procesy pro propojování a pouzdření

5.Elektrický návrh pouzder

6.Tepelný návrh pouzder

7.Technologický návrh propojení

8.Pouzdření na úrovni čipů

9.Pouzdření na úrovni diskrétních součástek

10.Pouzdření na úrovni multičipových modulů

11.Technologie a vlastnosti MCM-L

12.Technologie a vlastnosti MCM-D

13.Technologie a vlastnosti MCM-C

14.Pouzdra typu 3D

Osnova cvičení:

1.Organizace cvičení, bezpečnost práce. Zadání individuálních referátů

2.Šum a nelinearita kovových a polymerních elementů propojení

3.Příprava polymerních tlustých vrstev

4.Měření na polymerních vodivých strukturách

5.Měření na kovových vodivých strukturách

6.Stárnutí vzorků teplotními cykly

7.Ukázky pouzder

8.Měření parametrů vzorků po stárnutí - část 1

9.Měření parametrů vzorků po stárnutí - část 2

10.Měření tepelných parametrů vzorků pouzder

11.Mikroskopické zjišťování parametrů propojovacích struktur

12.Individuální referáty - část 1

13.Individuální referáty - část 2

14.Hodnocení experimentů a referátů. Zápočet

Cíle studia:
Studijní materiály:

1.Mach, P., Skočil, Vl., Urbánek, J. Montáž v elektronice. Praha: ČVUT. 2001

2.Sherwani, N. A., Yu, Q., Badida, S.: Introduction to multichip modules. New York : John Wiley & Sons. 1995

3.Tummala, R. , Rymaszewski, E. Microelectronics packaging handbook. New York : Van Nostrand Reinhold. 1999

Poznámka:

Rozsah výuky v kombinované formě studia: 14+4

Typ cvičení: l, p

Předmět je nabízen také v anglické verzi.

Další informace:
Pro tento předmět se rozvrh nepřipravuje
Předmět je součástí následujících studijních plánů:
Platnost dat k 9. 7. 2012
Aktualizace výše uvedených informací naleznete na adrese http://bilakniha.cvut.cz/cs/predmet11484104.html