Diagnostika a spolehlivost

Předmět je náhradou za:

Diagnostika a spolehlivost (36DSP)

Přednášející:

Petr Fišer

Cvičící:

Martin Daňhel, Petr Fišer

Předmět zajišťuje:

katedra počítačů

Anotace:

Modely poruch v číslicových systémech, generování testů pro kombinační a sekvenční obvody, minimalizace testů, simulace poruch, příznaková analýza, vestavěné diagnostické prostředky, testování LSI a VLSI, technické vybavení pro diagnostiku. Úvod do teorie spolehlivosti, modely, ukazatele, jejich hodnocení, zálohování, systémy odolné proti poruchám.

Požadavky:

Pro úspěšné zvládnutí předmětu je třeba absolvovat test v průběhu cvičení a úspěšně vypracovat všechny laboratorní úlohy. Zkouška se skládá z písemné a ústní části. Student je připuštěn k ústnímu pohovoru, jestliže získá alespoň polovinu z možného počtu bodů písemné části zkoušky.

Podklady k přednáškám http://service.felk.cvut.cz/courses/36DSP/

Osnova přednášek:

1. Úvod do diagnostiky, základní pojmy, modely poruch

2. Generování testů pro kombinační obvody.

3. Generování testů pro sekvenční obvody

4. Minimalizace testů. Náhodné a pseudonáhodné testy

5. Systémy automatizovaného generování testů. Simulace poruch

6. Komprese diagnostických dat, příznaková analýza. Slovníky poruch

7. Návrh pro snadnou diagnostiku, vestavěné diagnostické prostředky, zápis do rozhraní

8. Zabezpečení proti poruchám, samočinně kontrolované obvody. Hlídací časovač

9. Testování obvodů LSI a VLSI: mikroprocesorů, pamětí a PLA

10. Technické vybavení pro diagnostiku

11. Úvod do teorie spolehlivosti. Spolehlivostní modely

12. Výpočty spolehlivostních ukazatelů

13. Zálohování systémů, statická a dynamická záloha

14. Systémy odolné proti poruchám, jejich návrh a použití

Osnova cvičení:

1. laboratorní cvičení: demonstrace vytváření testu,využití nástroje na http://www.pld.ttu.ee/applets/td/td_exercises.html

2. Poruchy v číslicových obvodech, modely poruch.

3. Intuitivní zcitlivění cesty, D- algoritmus.

4. Boolovská diference, tabulky úplných testů.

5. Generování testů pro sekvenční obvody.

6. Minimalizace testů.

7. Komprese diagnostických dat, slovníky poruch.

8. Obvody bezpečné proti poruchám. Příprava na laboratorní

cvičení. Test

9.-12. Laboratorní cvičení (prováděná cyklicky):

- Detekce a lokalizace poruch v kombinačních obvodech

- Boundary scan

- BIST: prostředky pro autonomní testování - návrh základního technického vybavení

- BIST: optimalizace generátoru testu a příznakového analyzátoru

13. Výpočty spolehlivostních parametrů, zálohování systémů.

Cíle studia:

Cílem studia je poskytnout studentům základní představu o problematice testování elektronických systémů, vybavit je dovednostmi potřebnými k vytvoření efektivního testu obvodu a k návrhu systému se zvýšenou spolehlivostí.

Studijní materiály:

1. Novák, O, Gramatová, E., Ubar, R.: Handbook of Electronic Testing. Vydavatelství ČVUT, srpen 2005, ISBN 80-01-03318-X, 405 stran

2. Hlavička, J.: Diagnostika a spolehlivost. Praha, Vydavatelství ČVUT 1998, 155 s.

3. HLAVIČKA, J.: Diagnostika a spolehlivost - cvičení. Praha, Vydavatelství ČVUT 1999, 94 s.

Poznámka:

Rozsah výuky v kombinované formě studia: 14+4

Typ cvičení: s

Předmět je nabízen také v anglické verzi.

Rozvrh na zimní semestr 2011/2012:

	06:00–08:0008:00–10:0010:00–12:0012:00–14:0014:00–16:0016:00–18:0018:00–20:0020:00–22:0022:00–24:00
Po
Út
St	místnost Fišer P. 12:45–14:15 (přednášková par. 1) místnost Daňhel M. 14:30–16:00 (přednášková par. 1)
Čt
Pá

Rozvrh na letní semestr 2011/2012:

Rozvrh není připraven

Předmět je součástí následujících studijních plánů:

• MVT05-Výpočetní technika - projektování číslicových systémů- strukturované studium (povinný předmět zaměření)