VF obvody a měření

Přednášející:

Cvičící:

Předmět zajišťuje:

katedra radioelektroniky

Anotace:

Tématicky je předmět zaměřen na vysokofrekvenční obvodovou a měřicí techniku. Je určen především pro obor „Měření a přístrojová technika“. V přednáškách je kladen důraz na metodiku návrhu vf obvodů v měřicích aplikacích a jsou diskutovány koncepce moderních měřicích přístrojů a vlastnosti aktivních a pasivních vf součástí. Cvičení jsou laboratorní.

Požadavky:

Osnova přednášek:

1. Pasivní součásti vf obvodů se soustředěnými parametry

2. Rezonanční obvod a jeho vf vlastnosti, rezonanční měřicí přístroje

3. Součásti obvodů s rozloženými parametry, obvody s videm TEM

4. Mikrovlnné obvody v měřicí technice, vlnovody, mikropásky, YIG

5. Měřicí přístroje a obvody pro optické spoje, metodika měření

6. Metody návrhu a analýzy vf obvodů, CAD, Smithův diagram

7. Metody a přístroje pro měření pasivních součástí na vf

8. Aktivní součásti vf obvodů, vf a šumové parametry

9. Metody, přístroje a systémy pro měření aktivních součástí

10. VF vektorové analyzátory, měřicí obvody - splitter, směrový vazební člen

11. Zdroje vf signálů, vf oscilátory, rozmítané, krystalové

12. Měřiče parametrů vf signálů, analyzátory modulačních parametrů a spekter

13. VF laboratorní technika, rušení, vazby, EMC, stínění, stíněné prostory

14. Vysokofrekvenční normály, technika kalibrace, analýza chyb

Osnova cvičení:

1. Zásady laboratorní práce, deník, zpracování výsledků, bezpečnost

2. Měření parametrů vf obvodů rezonanční metodou (Q, L, R, C, M, tgd, k)

3. Experiment na měrném vedení, činitel odrazu, PSV, činitel zkrácení

4. Měření parametrů náhradního obvodu krystal.rezonátoru, dolaďování

5. Vektorová měření v obvodech s rozloženými parametry, přizpůsobení

6. Měření rozptylových parametrů vf tranzistorů (s11,s12,s21,s22)

7. Experiment s RC oscilátorem (zkreslení, stabilita amplitudy, frekvence)

8. Experiment s antialiasingovým filtrem, návrh, realizace, měření

9. Přesné měř. frekv. (krátkodobá a dlouhodobá stabilita, doba náběhu, tepl. stab.)

10. Měření parametrů signálů osciloskopickými metodami

11. Měření parametrů modulovaných signálů spektrálním analyzátorem

12. Měření parametrů náhradního obvodu pasivních vf součástek, frekv. závislosti

13. Měření mikrovlnných součástí v pásmu 10 GHz, izolátor, cirkulátor, směr. vazba

14. Závěrečné hodnocení, kontrolní měření, zápočty

Cíle studia:

Studijní materiály:

[1] Egen, G.F.: Microwave Circuit Theory and Foundations of Microwave Metrology. Peter Peregrinus Ltd., . London 1992

[2] Coombs, C.F.Jr.,,ed.: Electronic Instrument. McGraw-Hill, Inc., NY 1994

Poznámka:

Rozsah výuky v kombinované formě studia: 14+4

Charakter cvičení: l

Další informace:

Pro tento předmět se rozvrh nepřipravuje

Předmět je součástí následujících studijních plánů:

• Měření a přístrojová technika-inženýrský blok (povinně volitelný předmět)
• Měření a přístrojová technika-inženýrský blok (povinně volitelný předmět)