Aplikace mikroelektronických součástek

Přednášející:

Cvičící:

Předmět zajišťuje:

katedra mikroelektroniky

Anotace:

Cílem předmětu je seznámit studenty se specifickými vlastnostmi číslicových i analogových integrovaných obvodů všech stupňů složitosti. Velký důraz je kladen na podrobné pochopení rozdílů v aplikačním chování monolitických integrovaných struktur ve srovnání s obvody, sestavenými z diskrétních součástek, a na optimální využití těchto rozdílů. Teoretické výklady jsou doplněny podpůrným laboratorním měřením.

Požadavky:

Osnova přednášek:

1. Rozdíly vlastností diskrétních a integrovaných součástek

2. Analýza typických vnitřních struktur integrovaných součástek

3. Hlavní a vedlejší parametry monolitických operačních zesilovačů

4. Dynamické parametry neideálního operačního zesilovače

5. Obecná aplikační pravidla pro analogové integrované součástky

6. Výkonové integrované zesilovače souměrné a nesouměrné

7. Integrovaná stabilizátory analogové a spínané, referenční zdroje

8. Statické a dynamické parametry typových řad číslicových součástek

9. Napájecí požadavky číslicových součástek, ošetření vstupních signálů

10. Časovací chyby ve větších číslicových soustavách, řešení zemnicích soustav

11. Monolitické demodulátory AM a FM signálů, omezovače, vlastnosti

12. Kodéry a dekodéry různých typů signálů, aplikační směrnice

13. Integrované součástky pro řízení procesů; čidla, ovládače

14. Integrované součástky pro telekomunikační techniku, aplikace

Osnova cvičení:

1. Seznámení s laboratorním řádem, bezpečnostní poučení, vstupní test

2. Měření integrovaného širokopásmového zesilovače, kmitočtové vlastnosti

3. Zadání úkolu pro počítačový návrh systému na desce plošných spojů

4. - 7. Seminárně řízená individuální práce na návrhu systému počítačem v počítačové učebně katedry

8. Měření programovatelného integrovaného operačního zesilovače CMOS

9. Měření vlastností integrovaného výkonového zesilovače

10. Měření vlastností integrovaného analogového stabilizátoru

11. Měření vlastností integrovaného spínaného stabilizátoru

12. Měření rušivých signálů, generovaných integrovanými číslicovými obvody

13. Měření vlastností ultrazvukového zpožďovacího vedení

14. Zápočty

Cíle studia:

Studijní materiály:

[1] Foit, J.: Struktury a technologie mikroelektroniky. Skripta ČVUT, Praha 1987

[2] Horowitz, P.- Hill, W.: The Art of Electronics. Cambridge University Press, 1990

Poznámka:

Rozsah výuky v kombinované formě studia: 14+4

Typ cvičení: l, c

Tento předmět je nabízen také v anglické verzi.

Další informace:

Pro tento předmět se rozvrh nepřipravuje

Předmět je součástí následujících studijních plánů: