Měření a kontrola v elektrotechnologii

Předmět je náhradou za:

Měření a kontrola v elektrotechnologii (X13MAK)

Přednášející:

Cvičící:

Předmět zajišťuje:

katedra elektrotechnologie

Anotace:

Předmět vychází z odpovídajících teoretických poznatků,je zaměřen prakticky a sleduje potřeby elektrotechnické výroby.Je probíráno měření materiálových parametrů látek a měření parametrů prostředí,zejména teploty,tlaku a vlhkosti.Předmět zahrnuje zkoušky bezpečné funkce výrobků, věnuje se nejistotě a ekonomičnosti měření,jakož i metodám zpracování naměřených údajů.

Požadavky:

Osnova přednášek:

1. Systém měření a kontroly ve výrobním podniku

2. Význam a hlavní zásady hodnocení materiál.parametrů látek

3. Elektrické a neel.parametry látek vodivých a izolačních

4. Rozbor a eliminace hlavních chyb při měření dielektrik

5. Zjišťování objemové a povrchové teploty těles

6. Minimalizace chyb při měření teplot

7. Stanovení vlhkosti plynů

8. Měření tlaku a průtoku tekutin

9. Kontrola rozměrů těles a tenzometrická měření

10. Zkoušky bezpečné funkce elektrotechnických výrobků

11. Nejistota měření a její vyhodnocení

12. Metody zpracování naměřených údajů

13. Automatizované systémy měření

14. Experimentální způsob stanovení spolehlivosti výrobků

Osnova cvičení:

1. Úvod. Organizace cvičení. Požadavky

2. Podmínky realizace měření materiálových parametrů

3. Příprava vzorků pro měření

4. Chyby měření způsobené nevhodným připojením vzorků

5. Charakteristiky teplotních snímačů

6. Minimalizace chyb při měření teplot

7. Hodnocení a praktické uplatnění převodníků tlaku

8. Praktické posouzení různých způsobů měření vlhkosti vzduchu

9. Měření koeficientu deformační citlivosti tenzometrů

10. Měření malých vzdáleností a tloušťky vzorků

11. Měření charakteristik optoelektronických sond

12. Měření komplexního modulu pružnosti tuhých látek

13. Rozbor a zhodnocení dosažených výsledků měření

14. Zápočet

Cíle studia:

Studijní materiály:

[1] Koblížek, V., Havlíček, Sv. a kol.: Měření a kontrola v elektrotechnologii I. Skripta FEL ČVUT, Praha 1989

[2] Koblížek, V.: Měření a kontrola v elektrotechnologii II. Skripta FEL ČVUT, Praha 1991

Poznámka:

Rozsah výuky v kombinované formě studia: 19+4

Typ cvičení: s, l

Další informace:

Pro tento předmět se rozvrh nepřipravuje

Předmět je součástí následujících studijních plánů:

• Technologické systémy -inženýrský blok (povinný předmět)
• Technologické systémy -inženýrský blok (povinný předmět)