Komplexní řízení jakosti

Přednášející:

Cvičící:

Předmět zajišťuje:

katedra elektrotechnologie

Anotace:

Časové závislosti kvality a spolehlivosti. Kvantitativní pojetí spolehlivosti a řízení jakosti v Japonsku a USA. Kvantifikace spolehlivosti dle norem ISO 9000. Zálohování. Fyzika poruch. Arrheniův a Eyringův vztah. Předpověď spolehlivosti. Matematické modelování. SPC a její zavedení v elektrotechnické výrobě. Certifikace a akreditace kvality technologického procesu.

Požadavky:

Student musí před zkouškou získat zápočet. Účast na cvičeních je povinná, podmínkou zápočtu je zpracování a prezentace krátké semestrální práce.

Osnova přednášek:

1. Význam řešení spolehlivosti, pojem kvality, časová závislost

2. Spolehlivost, kvant. koef. Japonská a americká cesta CQC

3. Označování a zjišťování spolehlivosti. Zálohování. Normy ISO 9000

4. Fyzika poruch. Mechanismy znehodnocování elektronických součástek

5. Arrheniův a Eyringův zákon. Fyzikální modely spolehlivosti

6. Předpověď a výpočet spolehlivosti. Typy měřicích metod

7. Optimalizace výrobních procesů, matematické modelování

8. Třídění a test. součástek. Vliv tolerance na spolehlivost

9. Vliv prostředí, tepla a záření na spolehlivost

10. Sedm Ishikawových nástrojů řízení jakosti

11. Metodika SPC a základní předpoklady

12. Studie dosažitelné přesnosti

13. Regulační diagramy

14. Kvalita, certifikace, akreditace

Osnova cvičení:

1. Výklad laboratorních úloh. Bezpečnost práce

2. Zjišťování těsnosti elektronických výrobků

3. Termografie v reálném čase, měření termovizí

4. Holometrie a její využití pro kontrolu výroby

5. Měření intenzity ionizačních zdrojů . Zadání semestr. práce

6. Měření elektrostatických nábojů v laboratoři

7. Měření zbytkových nábojů na kapacitorech

8. Optická vlákna pro čidla teploty

9. Demonstrace diagnostiky pro odhad kvality - EZÚ

10. Demonstrace užití dozimetrie pro odhad kvality - FJFI

11. Přihlašování vynálezů, patentová ochrana. Copyright

12. Praktické řešení spolehlivosti - obhajoba semestr. prací

13. Praktické řešení klimatotechnologie - obh. sem. prací

14. Hodnocení semestr. prací a referátů z měření. Zápočet

Cíle studia:

Studijní materiály:

[1] Ryšánek, Vl.: Řízení jakosti a spolehlivosti elektronických výrobků. Skripta ČVUT, Praha 1990

[2] Václavek, J.: Statistická regulace výr. procesů, Bartoň QSV, Č. Budějovice, 1996

[3] Middleman, S.: Process engineering analysis in semiconductor device fabrication, McGraw-Hill, N.Y. 1993

Poznámka:

Rozsah výuky v kombinované formě studia: 19+4

Typ cvičení: s, l

Předmět je nabízen také v anglické verzi.

Další informace:

Pro tento předmět se rozvrh nepřipravuje

Předmět je součástí následujících studijních plánů:

• Technologické systémy -inženýrský blok (povinný předmět)
• Technologické systémy -inženýrský blok (povinný předmět)